(openPR) Unter der Bezeichnung „Boundary Scan on Tour™“ führt GÖPEL electronic zum fünften Mal eine deutschlandweite Roadshow zur JTAG/Boundary Scan Technologie gemäß Standard IEEE 1149.x durch.
Vom 27. Juni bis 08. Juli 2011 haben Interessenten dabei sowohl die Möglichkeit, sich über die Theorie der Test-, Programmier- und Emulationsmethodik zu informieren, als auch Praxisinformationen und Applikationsbeispiele aus erster Hand zu erhalten.
Folgende Termine und Orte sind geplant:
27. Juni - Dresden
28. Juni - Berlin
29. Juni - Hamburg
30. Juni - Hannover
01. Juli - Jena
04. Juli - Mönchengladbach
05. Juli - Frankfurt/M.
06. Juli - Stuttgart
07. Juli - Freiburg
08. Juli - München
Die Veranstaltungen finden jeweils Dienstags bis Freitags von 9 bis 13 Uhr sowie Montags von 13 bis 17 Uhr statt. Sie vermitteln generelle Informationen zur JTAG/Boundary Scan Technologie, dokumentieren Einsatzgebiete und Kombinationsmöglichkeiten mit anderen Testverfahren und arbeiten dabei Anwendervorteile heraus. Erfahrene Mitarbeiter der GÖPEL electronic GmbH demonstrieren dabei, wie mittels JTAG/Boundary Scan bei minimalem Aufwand die größtmögliche Testabdeckung erreicht werden kann.
Während der Veranstaltungen stehen Applikationsingenieure von GÖPEL electronic ständig für individuelle Diskussionen und Fragen zur Verfügung.
„Boundary Scan on Tour™“ ist nicht als Werbe-Event konzipiert, sondern als Plattform zur Informationsbeschaffung und -bereitstellung über das derzeit innovativste Verfahren zum Testen, Programmieren, Verifizieren und Emulieren auf Chip-, Board- und Systemebene.
Die Teilnahme an den jeweiligen Veranstaltungen ist kostenfrei. Interessenten können sich bei Frau Claudia Mock per Email unter
oder telefonisch unter 03641-6896-763 anmelden. Außerdem besteht die Möglichkeit der Online-Registrierung unter www.goepel.com/roadshow-bscan.










