(openPR) GÖPEL electronic gibt unter dem Namen TEM/ISO die Markteinführung einer weiteren Komponente im Rahmen der revolutionären Boundary Scan Hardwareplattform SCANFLEX® bekannt. Das neuentwickelte TAP Extension Module (TEM) wurde speziell für Applikationen in kritischen Signalumgebungen mit notwendiger Potenzialtrennung konzipiert und ermöglicht eine vollständig galvanische Isolation des TAP Transceivers vom Target.
„Mit dem neuen TEM/ISO Modul können wir die Störfestigkeit unserer TAP-Interfaces auch in kritischsten Signalumgebungen garantieren, wobei die Geschwindigkeit der Signalübertragung jedoch nicht beeinflusst wird“, freut sich Karl Miles, UK Sales Manager bei GOEPEL electronics UK. „Damit ergänzen wir unser Produktportfolio in diesem Segment um eine flexible und zuverlässige Standardlösung, welche vollkompatibel zum bestehenden SCANFLEX Sortiment ist. Diese Eigenschaften sichern unseren Kunden eine exzellente Adaptierbarkeit an verschiedenste Umgebungen und Interface-Konditionen“.
Das TEM/ISO kann in jeden SCANFLEX TAP-Transceiver der FXT-Serie verbaut werden und isoliert die differentiellen TAP-Signale zur Ansteuerung externer TAP Interface Cards (TIC). Es ist mit jedem TIC02/xx und jedem TIC03/xx kombinierbar und Pinkompatibel zum bereits existenten TEM Modul. Diese Kompatibilität ermöglicht ein problemloses Upgrade existenter Applikationen.
Darüber hinaus macht die differentielle Ankopplung eine extrem sichere Datenübertragung über mehrere Meter Entfernung bei TCK Frequenzen bis 80MHz möglich. Ein Performanceverlust entsteht dadurch nicht, da die Laufzeitverzögerungen der Kabel und der Unit Under Test UUT durch die ADYCS™ Technik pro TAP individuell kompensiert werden. Im Zusammenhang mit dem SCANFLEX TAP-Transceiver SFX/TAP8-FXT können bis zu 8 unabhängige echt parallele TAP nunmehr potentialgetrennt angesteuert werden.
Die neuen TAP Extension Module werden von der industriell führenden Boundary Scan Software SYSTEM CASCON™ ab Version 4.53 vollständig unterstützt und ermöglichen Operationen für IEEE1149.1, IEEE1149.4, IEEE1149.6, IEEE1149.7, IEEE1532, JESD71 sowie JTAG- und einer Vielzahl von non JTAG Debug-interfaces. Die softwaremäßige Erkennung der TEM/ISO Module erfolgt vollautomatisch durch das AutoDetect Feature.
Durch die OEM-Kooperation mit allen führenden Anbietern von In-Circuit-Testern (ICT), Manufacturing Defect Analyzers (MDA), Flying Probern (FPT) und Funktionstestern (FCT) steht die neue Lösung auch sofort für die Produktion zur Verfügung.
