(openPR) Wissenschaftlerinnen und Wissenschafler haben einen Durchbruch beim Verständnis der grundlegenden intrinsischen Eigenschaften von MXenen erzielt – einer Materialklasse, die wegen ihres Potenzials für Energiespeicher der nächsten Generation und fortschrittliche Elektronik hochgelobt wird.
MXene (ausgesprochen „Maxene“) sind ultradünne Materialien mit einer Dicke von nur wenigen Atomen, die für ihre Fähigkeit bekannt sind, Elektrizität zu leiten, Energie zu speichern und mit Licht zu interagieren. Bislang wurden MXene jedoch meist in ihrer Gesamtform untersucht – als dünne Filme, die aus vielen übereinanderliegenden Flocken bestehen. Dieser Ansatz war zwar nützlich, verdeckte jedoch die einzigartigen Eigenschaften einzelner Flocken und ließ Fragen über ihr wahres Potenzial offen.
Die neue Studie wurde von Dr. Andreas Furchner vom Helmholtz-Zentrum Berlin (HZB) zusammen mit Dr. Ralfy Kenaz vom Institut für Physik der Hebräischen Universität (HUJI) geleitet – eine enge Zusammenarbeit zwischen den Forschungsgruppen von Dr. Tristan Petit und Prof. Ronen Rapaport. Sie zeigt zum ersten Mal, wie sich einzelne MXene-Flakes verhalten, wenn sie isoliert und im Nanobereich untersucht werden. Die Ergebnisse wurden kürzlich in ACS Nano veröffentlicht, einer der weltweit führenden Fachzeitschriften für Nanowissenschaften und Nanotechnologie.
Die Ellipsometrie ist eine der fortschrittlichsten nicht-invasiven optischen Techniken zur Materialcharakterisierung. Herkömmliche Ellipsometer haben jedoch von Natur aus Schwierigkeiten, Bereiche zu messen, die kleiner als 50 Mikrometer sind – etwa die Breite eines menschlichen Haares –, sodass sie für die Analyse der in der modernen Technologie und Forschung üblichen mikroskopischen Strukturen ungeeignet sind. Infolgedessen beschränkten sich ellipsometrische Messungen an MXenen bisher auf makroskopische Dünnschichten aus gestapelten, überlappenden Flocken. Diese Einschränkung verhinderte direkte Messungen einzelner MXene-Flocken, deren laterale Abmessungen viel kleiner sind, und stand somit einem echten Verständnis ihrer intrinsischen Eigenschaften im Wege.
Um dieses Problem zu lösen, setzten die Forschenden eine von ihnen entwickelte, fortschrittliche, patentierte Technik ein, die sie als spektroskopische Mikroellipsometrie (SME) bezeichnen – im Wesentlichen eine Art „optischer Fingerabdruck“ –, mit der sie die optischen, strukturellen und elektronischen Eigenschaften einzelner MXene-Flocken mit hoher lateraler Auflösung und ohne Beschädigung messen konnten. In der Studie wurden einzelne MXene-Flocken unterschiedlicher Dicke im HZB synthetisiert und zur SME-Messung an die HUJI geschickt. Ergänzende Messungen im Nanobereich wurden im Nanozentrum der HUJI durchgeführt, und alle Datenanalysen wurden gemeinsam von beiden Gruppen durchgeführt.
Durch Bestrahlung mikroskopisch kleiner Flocken, die nur eine Molekülschicht dick sind, mit Licht definierter Polarisation und Analyse der Reflexion dieses Lichts konnten die Forscherinnen und Forscher kartieren, wie sich die Fähigkeit des Materials, Elektrizität zu leiten und mit Licht zu interagieren, in Abhängigkeit von seiner Dicke und seinen strukturellen Eigenschaften verändert. Sie entdeckten, dass der elektrische Widerstand von MXene-Flocken mit zunehmender Dünne zunimmt – eine wichtige Erkenntnis für die Entwicklung zuverlässiger Hochleistungsgeräte.
Die Methode war so präzise, dass sie mit nanoskaligen Bildgebungswerkzeugen wie der Rasterkraftmikroskopie (AFM) und der Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM) mithalten konnte, was ihre Leistungsfähigkeit als nicht-invasives Diagnosewerkzeug bestätigte.
Dr. Furchner vom Helmholtz-Zentrum Berlin, der sein umfangreiches Fachwissen im Bereich Ellipsometrie in das MXene-Feld einbrachte, bemerkte:
„Durch die Messung, wie einzelne MXene-Flocken Licht depolarisieren, konnten wir strukturelle Schwankungen in der Dicke innerhalb der Flocken auf Nanoebene genau bestimmen. Wir waren begeistert, wie gut die Ergebnisse mit destruktiven Techniken wie STEM übereinstimmen.“
Dr. Kenaz von der Hebräischen Universität, Entwickler und Miterfinder der SME-Technik, sagte:
„Das wirklich Herausragende an dieser Arbeit ist, dass wir in weniger als einer Minute die optischen Eigenschaften, die Dicke, die strukturellen Eigenschaften und die Leitfähigkeit einzelner MXene-Flocken direkt messen können – und das alles auf nicht-destruktive Weise. Normalerweise erfordern diese Messungen drei verschiedene Instrumente, sind zeitaufwändig und zerstörend und letztendlich nicht so zuverlässig wie die spektroskopische Mikroellipsometrie.“
Dr. Petit vom Helmholtz-Zentrum Berlin fügte hinzu:
„Dies eröffnet neue Forschungsfelder für die Operando-Charakterisierung, die bisher nur mit Synchrotron-Techniken wie STXM (Scanning Transmission X-ray Microscopy) möglich waren. Wir verfügen nun über eine neuartige, hochdurchsatzfähige Technik, um zu verstehen, wie sich MXene in verschiedenen Umgebungen entwickeln – ein laborbasiertes Werkzeug, das beispielsweise Röntgenbildgebungsversuche ergänzt.“
MXene werden für eine Vielzahl von Anwendungen erforscht – von ultraschnellen Batterien und Wasseraufbereitungssystemen bis hin zu flexibler Elektronik und Solarenergiegewinnung. Das Verständnis des Verhaltens des Materials auf Einzelblättchenebene ist für die Entwicklung effizienter und skalierbarer Geräte von entscheidender Bedeutung.
Prof. Rapaport von der Hebräischen Universität fügte hinzu:
„Diese Arbeit liefert einen Fahrplan für die Integration von MXenen in reale Technologien, indem sie einen direkten Einblick in ihre intrinsischen Eigenschaften bietet, ohne dass gestapelte Schichten oder Verunreinigungen stören. Indem wir die Untersuchung dieser Materialien mit unserer SME-Technik verfeinern, ebnen wir den Weg für ihren Einsatz in optoelektronischen Geräten, Energielösungen und darüber hinaus.“
Die Studie erschließt nicht nur grundlegendes Wissen über MXene, sondern etabliert auch die spektroskopische Mikroellipsometrie als neuen Standard für die Analyse von 2D-Materialien. Mit diesem Durchbruch könnten Wissenschaftler weltweit bald in der Lage sein, andere neu entstehende Nanomaterialien auf die gleiche Weise zu untersuchen.
Dr. Petit vom Helmholtz-Zentrum Berlin fasst zusammen:
„Dies ist ein eindrucksvoller Beweis dafür, wie internationale Zusammenarbeit und moderne Physik die Materialwissenschaft vorantreiben können. MXene sind nur der Anfang.“
Text: Pressemitteilung von der Hebrew University of Jerusalem
wissenschaftliche Ansprechpartner:
Dr. Andreas Furchner
Originalpublikation:
ACS Nano (2025): Optical, Structural, and Charge Transport Properties of Individual Ti3C2Tx MXene Flakes via Micro-Ellipsometry and Beyond
Autoren: Ralfy Kenaz, Saptarshi Ghosh, Mailis Lounasvuori, Namrata Sharma, Sergei Remennik, Atzmon Vakahi, Hadar Steinberg, Tristan Petit, Ronen Rapaport and Andreas Furchner
DOI: 10.1021/acsnano.5c06938
