Kooperation von GÖPEL electronic und DM&P ermöglicht neue Teststrategie für x86 System-On-Chip

(openPR) GÖPEL electronic, weltweit führender Lieferant von JTAG/Boundary Scan Lösungen, hat in Kooperation mit der taiwanesischen Firma DM&P spezielle VarioTAP®-IP’s zum Test der VORTEX® Chip Familie mit x86 Architektur entwickelt. Die Lösung ermöglicht den Einsatz von dynamischen Prozessor-Emulationstests zur Erkennung und Diagnose von Fehlern auf Board- und Systemlevel und unterstützt auch die embedded Flash-BIOS-Programmierung.

„Durch den extrem hohen Integrationsgrad ebnen die VORTEX-Schaltkreise den Weg zur Entwicklung sehr kompakter Baugruppen – gesteuert von einem voll x86 kompatiblen embedded PC – welche allerdings durch das BGA-Packaging erhebliche Schwierigkeiten beim Test bereiten“, erklärt Thomas Wenzel, Geschäftsführer der JTAG/Boundary Scan Division bei GÖPEL electronic. „Dieses Problem konnten wir mit unserer VarioTAP-Technologie erfolgreich lösen, womit jetzt weltweit für alle VORTEX Kundenprojekte neue Werkzeuge zur Absicherung der Testqualität beim Prototyping und in der Produktion verfügbar sind.“

„Die Unterstützung unserer Kunden beim Test der mit VORTEX Single-Chip PC ausgerüsteten Boards ist für uns genauso wichtig wie die Beratung beim Design-In Prozess“, erklärt Gary Cheng, Präsident von DM&P. „Daher freuen wir uns, durch die Kooperation mit GÖPEL electronic den Anwendern nunmehr eine völlig neue Teststrategie offerieren zu können wodurch Design und Test noch enger zusammenrücken.“

Die VORTEX® Familie umfasst mehrere komplexe System-On-Chip Schaltkreise mit bis zu 720 BGA-Pins. In den Chips ist eine vollständige x86 Architektur, einschliesslich North- und Southbridge, sowie fast sämtliche Peripherie integriert. Durch VarioTAP® wird der x86 Prozessor über den standardmäßigen Debug-Port in einen nativen Design-embedded Test-, und Programmier-Controller umfunktioniert. Die als Processor Emulation Test (PET) bezeichnete Strategie ist neben Boundary Scan (IEEE1149.x) das derzeit modernste Verfahren im Bereich der embedded Test-Access Technologien und ermöglicht den funktionalen at-speed Test sämtlicher Bus- und Kommunikations-Interfaces des VORTEX, wie USB2.0, LAN, IDE, COM, DDRII, ISA, PCI usw. auf Chip-, Board-, und System-Level.