(openPR) Im Rahmen der Technologie-Partnerschaft der iSYSTEM AG und GÖPEL electronic GmbH veranstalten beide Unternehmen in Kooperation mit Freescale Semiconductor einen kostenlosen Workshop am 21. April 2010. Die Veranstaltung steht unter dem Motto „Boundary Scan meets Freescale Microcontroller Emulation“ und wird in den Räumlichkeiten der GÖPEL electronic GmbH in Jena stattfinden. Ein Fokus der Veranstaltung wird auf der VarioTAP®-Unterstützung für das umfangreiche Portfolio an Prozessoren von Freescale liegen. Hierzu kommen Vertreter aller drei Unternehmen zu Wort und demonstrieren praxisnahe Anwendungsmöglichkeiten.
„Durch die Verbindung der leistungsstarken Prozessoren von Freescale mit unserer VarioTAP®-Technologie sind Anwender in der Lage, strukturelle Boundary Scan Tests mit den funktionalen Emulationstests für dynamische Komponenten sowie mit High-Speed Flash Programmierung auf einer Plattform zu kombinieren“, sagt Steffen Köhler, Team Manager Emulation Test bei GÖPEL electronic. „Wir möchten allen Besuchern zeigen, dass derartige Teststrategien eine deutliche Steigerung der Fehlerabdeckung bei gleichzeitiger Senkung der Gesamtkosten für Test und Reparatur ermöglichen.“
„Die Zusammenarbeit mit GÖPEL electronic ist für iSYSTEM ein weiterer, wichtiger Meilenstein in der Umsetzung unserer „V-Modell-Strategie“. Über die letzten Jahre haben wir insbesondere aufgezeigt wie traditionelle Software-Entwicklungswerkzeuge innerhalb des gesamten Softwareerstellungs- und Testprozesses kostengünstig integriert und eingesetzt werden. Die durch die GÖPEL-iSYSTEM-Kooperation jetzt schon entstandenen Synergien und die noch angestrebte, tiefgehende Vernetzung beider Technologien, eröffnen sich den Kunden neue Perspektiven in Bezug auf effiziente und auf die heutige Mikroprozessor-Technik abgestimmte Software- und Hardwaretests,“ ergänzt Erol Simsek Vorstandssprecher der iSYSTEM AG.
Boundary Scan und JTAG-Emulation sind zwei einander hervorragend ergänzende Methoden, welche durch die von GÖPEL electronic entwickelte VarioTAP®-Technologie zu einem extrem flexiblen und leistungsstarken Team für fortgeschrittene strukturelle Tests verschmolzen werden. Aufgrund der organischen Implementierung ist eine einfache Migration von JTAG-Emulationstest in vorhandene Boundary Scan Projekte möglich. Der Einsatz von VarioTAP® setzt das Potential beider Techniken vollständig frei und ermöglicht bei deutlich reduzierten Kosten eine wesentlich höhere Testqualität, kürzere Test- und Programmierzeiten und beste Diagnosegüte. Durch die modulare, auf Software-IP basierende Architektur ist die Systemlösung vollständig unabhängig gegenüber dem Target Prozessor(en) und bereits für zukünftige Applikationen und Standards vorbereitet.
Interessenten können sich bei Frau Maria Kirchner telefonisch unter 03641-6896 763 oder per Email an







