GÖPEL electronic unterstützt Picochip beim Test der nächsten Generation von Funkzellen-Chips

(openPR) GÖPEL electronic in Kooperation mit der britischen Firma Picochip spezielle VarioTAP®-IPs zum Test der neuen Generation picoXcell femtocell Chips entwickelt. Die Lösung ermöglicht den Einsatz dynamischer Prozessor-Emulationstests (PET) zur Erkennung und Diagnose von Fehlern auf Board- und Systemlevel, und unterstützt auch embedded Flash-Programmierungen.

„Ziel der Zusammenarbeit mit Picochip war es, den innovativen Anwendungen der neuen 3G femtocell Funkzellen Chips auch durch entsprechende Teststrategien in der Produktion zu flankieren“, erklärt Karl Miles, UK Sales Manager bei GOEPEL electronics. „Dieses Ziel haben wir durch die jetzt verfügbaren VarioTAP-IP in vollem Umfang erreicht. Kunden von Picochip sind nunmehr in der Lage, völlig neue Produkt-Konzepte für mobile Netzwerke zu entwickeln und anschließend vorkonfektionierte Lösungen und unseren kompletten Service zur Absicherung des Produktionstest einzusetzen.“

„Unsere innovative picoXcell Produktlinie hat das Potential, durch Aufbau lokaler Miniatur-Funk-Stationen die Architektur mobiler HSPA- und LTE-Netzwerke völlig zu verändern“, freut sich Rupert Baines, VP of Marketing bei Picochip. “Die durch GOEPEL electronics speziell für unsere Chips entwickelte VarioTAP-Teststrategie leistet hier einen wichtigen Beitrag, die entsprechenden Design-Ins schneller in die Fertigung zu überführen und die notwendige Testqualität zu garantieren. Dank dessen sind wir in der Lage, unseren PC500 in höchsteffizienter Art und Weise zu testen und produzieren.“

Der PC500 ist der neuste Baustein von Picochip. Dabei handelt es sich um einen Hochleistungs-Basisbandprozessor, der speziell für ‚kleinzellige‘ Systeme entwickelt wurde. Er unterstützt sowohl die FDD- und TDD-Versionen des LTE als auch den Dual Mode mit HSPA.

Durch VarioTAP® wird dieser Prozessor über den Standard-Debug-Port in einen nativen Design-embedded Test- und Programmier-Controller umfunktioniert. Die als Processor Emulation Test (PET) bezeichnete Strategie ist neben Boundary Scan (IEEE1149.x) das derzeit modernste Verfahren im Bereich der embedded Test-Access Technologien und ermöglicht den funktionalen At-Speed-Test von Chips, Boards und kompletten Systemen.