Embedded World 2010 Plattform für Testlösungen der nächsten Generation

(openPR) Auf der Embedded World 2010 in Nürnberg wird GÖPEL electronic seine neuesten Lösungen aus den Technologiebereichen JTAG/Boundary Scan und Automotive Test vorstellen. Der Anbieter innovativer Mess- und Prüftechnologien für Elektronikentwicklung und -produktion sowie Automobilelektronik wird in Halle 10.0 auf Stand 524 neueste Lösungen zum Erreichen der maximalen Testabdeckung ausstellen.

Das Hauptaugenmerk im Bereich JTAG/Boundary Scan wird auf Weiterentwicklungen der revolutionären Emulationstechnologie VarioTAP® liegen, welche die weltweit erste Verschmelzung von Boundary Scan Test und JTAG Emulation darstellt. VarioTAP® ermöglicht eine signifikante Erhöhung von Testabdeckung und Minimierung von Flash-Programmierzeiten. So werden auf der Embedded World u.a. die VarioTAP®-Unterstützung weiterer Prozessortypen von Xilinx, Microchip oder Cavium Networks bekanntgegeben.
Weitere Neuvorstellungen aus dem Haus GÖPEL electronic sind ein neues Multi Emulation Bus Interface namens TIC020 sowie zusätzliche Hardware-Komponenten zur VarioTAP®-Unterstützung.

Der Geschäftsbereich Automotive Test Solutions glänzt mit den intelligenten programmierbaren Multibus-Controllern der Serie 61 zur Kommunikation via CAN, LIN, FlexRay oder mehrerer verschiedener Bussysteme. Es handelt sich dabei um eine komplett neue Generation von Kommunikationsschnittstellen auf Basis eines Power-PCs. Des Weiteren zeigt GÖPEL electronic Live-Applikationen seiner LVDS- und FlexRay-Komponenten. Auch die Vorteile und Alleinstellungsmerkmale der universellen Software-Suite myCAR als Bediensoftware zur Steuergeräte-Kommunikation und Diagnose werden anhand von Applikationsbeispielen demonstriert.