ASSET bringt Unterstützung für JTAG-Testtools in IEEE 1149.7-Standard ein

(openPR) Experte für eingebettete Messtechnik beteiligt sich an der Entwicklung eines Testzugangs-Ports mit reduzierter Pinzahl und erweiterter Funktionalität

Richardson, TX/München (11. September 2008) – ASSET® InterTech (asset-intertech.com), führender Anbieter von offenen Tools für eingebettete Instrumentation, übernimmt als eines der Gründungsmitglieder der Arbeitsgruppe eine wichtige Rolle bei der Entwicklung der IEEE 1149.7 Spezifikation zur Definition des kommenden Standards, der Anfang 2009 ratifiziert werden wird.

IEEE 1149.7 ist eine Weiterentwicklung des bereits etablierten Standards IEEE 1149.1, der den Test Access Port (TAP) und die Boundary-Scan-Architektur definiert, bietet aber Optionen für eine kleinere Schnittstelle mit zwei Leitungen und verbesserter Funktionalität. Außerdem erweitert IEEE 1149.7 die Test- und Debug-Funktionen des TAP des IEEE 1149.1-Standards durch Unterstützung für komplexe Bausteine wie SOC (System-On-Chip), SIP (System-In-Package) und andere Multicore- oder Multichip-Komponenten. Durch die reduzierte Pin-Zahl der Formfaktoren des IEEE 1149.7 ist der Standard auf mobile Produkte ausgerichtet, bietet aber gleichzeitig auch verbesserte Testfunktionalität für alle anderen elektronischen Systeme.

„Anspruchsvolle Halbleiterkomponenten packen heute die Funktionalität eines ganzen Systems auf einen Baustein. Tatsächlich setzen SOC- und SIP-Technologien ihren Siegeszug weiter fort“, sagt Adam Ley, Chief Technologist von ASSET und designierter Repräsentant des Unternehmens in der IEEE 1149.7-Arbeitsgruppe. „Die Komplexität dieser Bausteine erfordert eingebettete Instrumentation, um sie und die übergeordneten Schaltkreisbaugruppen, in denen sie implementiert sind, testen und debuggen zu können. Durch die Beteiligung an der Entwicklung von IEEE 1149.7 möchten wir den Abruf, die Automatisierung und die Auswertung eingebetteter Messtechnikinformationen über den Standard-Testzugriffs-Port vereinfachen, so wie wir das bereits für den IEEE 1149.1 Boundary-Scan-Standard getan haben und heute für eine andere zukunftsträchtige Messtechnikspezifikation, den IEEE P1687-Standard (auch Internal JTAG oder IJTAG genannt), machen. In unseren Augen ergänzen sich alle diese Standards und bieten wichtige Synergieeffekte.“

„Nach der Ratifizierung des Standards im nächsten Jahr hängt die Implementierung dieser neuen Technologie von der Verfügbarkeit von Tools ab, die den Chipdesignern und Designern von Downstream-Leiterplatten- und –Systemen sowie den Herstellern eine einfachere Entwicklung ermöglichen“, sagt Stephen Lau, Produktmanager für Emulationstechnologie bei Texas Instruments (TI). „ASSET hat einen unschätzbaren Beitrag dazu geleistet, dass der IEEE 1149.7-Standard sein Versprechen als effizientes und effektives Board- und System-Testverfahren erfüllen wird, wie es erstmals mit dem IEEE 1149.1-Standard angeboten wurde.