(openPR) Das neue Medalist-ScanWorks-Bundle liefert kosteneffiziente Testwiederverwendung von der Entwicklung bis hin zur Massenproduktion
Gräfelfing/Richardson, Texas, 22. Februar 2005 – ScanWorks®, ein JTAG-Testsystem von ASSET® InterTech, einem international führenden Unternehmen für Boundary-Scan-Test (IEEE 1149.1/JTAG) und In-System-Programmierung (ISP), wurde nahtlos in Medalist i5000, das neueste In-Circuit-Testsystem (ICT) von Agilent Technologies, integriert. Zusätzlich bietet Agilent bevorzugt ScanWorks als die gebündelte JTAG-Lösung für die Medalist-ICT-Produktlinie an, inklusive den Systemen i5000 und 3070 Series. Agilent bezeichnet seine Boundary-Scan-Lösung nun als Medalist ScanWorks.
„Als wir vor mehr als drei Jahren die Partnerschaft mit ASSET eingegangen sind und ihr ScanWorks-Werkzeug in unser 3070-Produkt integriert haben, sind wir die Verpflichtung eingegangen, unseren Kunden die ‚Best-in-Class’ Boundary-Scan-Lösung anzubieten,“ erklärt Marty Leeke, ICT Produktmanager bei Agilent. „Unser Engagement geht mit i5000 weiter. Mit Medalist ScanWorks haben die Anwender jedes Agilent-ICT-Systems ein JTAG-System, das wirklich leistungsfähig ist was die Test Coverage und die Geschwindigkeit von Testapplikationen für die Massenproduktion angeht. Gleichzeitig ist es aber sehr leicht zu lernen und bedienerfreundlich.“
ScanWorks wird von führenden Elektronikunternehmen wie Cisco, Lucent, Xyratec, Aselsan, Thales, Thompson Grass Valley, BAE, Alcatel, HP, Ericsson, Intel, Raytheon, SBS oder Solectron benutzt.
„Aufgrund der weitergehenden Integration von ScanWorks in seine ICT-Systeme, kann Agilent seinen ICT-Kunden die effiziente Wiederverwendung von Boundary-Scan-Tests während des gesamten Produktlebenszyklus anbieten,“ kommentiert Reg Waller, European Director von ASSET InterTech. „Die JTAG-Designvalidierungstests, die auf einer ScanWorks-Benchtop-Station während der Entwicklungsphase eines Produkts generiert werden, können bei Massenproduktion auf ICT-Systemen mit Medalist ScanWorks wiederverwendet werden. Anschließend ist es möglich, diese gleichen Boundary-Scan-Tests für den Kundendienst oder Instandsetzungsarbeiten zu nutzen. Somit reduzieren sich die Kosten für die Testentwicklung und die gesamte Produktivität erhöht sich. Alle Medalist-ScanWorks-Tests sind voll kompatibel sowohl mit der i5000- als auch mit der 3070-Plattform.“
Die Medalist-ScanWorks-Lösung bündelt ScanWorks, das Interconnect Plus Boundary-Scan-Tool von Agilent und Silicon Nails, das mit Boundary-Scan-Ketten arbeitet, um Bausteine automatisch zu testen, die Boundary Scan nicht abdeckt. Benutzer können beispielsweise Tests von einer ScanWorks-Station in die Entwicklungsabteilung oder zur Produktion migrieren, um sie dort mit den Silicon-Nails-Tests zu verbinden. Diese aufeinander abgestimmte Testsuite aus ScanWorks- und Silicon-Nails-Tests erreicht eine höhere Test Coverage als die beiden Tests für sich allein gesehen.
Über ASSET InterTech
ASSET InterTech mit Sitz in Dallas, Texas, entwickelt, vermarktet, vertreibt und unterstützt weltweit Produkte für Boundary-Scan-Testmethoden und In-System Programmierung (ISP). ScanWorks von ASSET ist einfach zu bedienen, aber dennoch leistungsfähig, wodurch schnell und einfach Halbleiter, Leiterplatten oder ganze Systeme während jeder Phase des Produktlebenszyklus, vom Design über die Herstellung bis hin zur Wartung, getestet werden können. Die ISP-Fähigkeit von ScanWorks kann dazu benutzt werden, Software oder Daten auf programmierbare Bausteine zu laden, nachdem die Leiterplatten mit diesen bestückt wurden. Die ScanWorks-Familie basiert auf einem Standard der IEEE (International Electronics and Electrical Engineering Society) und ist bekannt als IEEE 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan-Testspezifizierung.
Weitere Informationen unter www.asset-intertech.com.
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