(openPR) DFT Analyzer™ erhält eine “Honorable Mention“ als erstes DFT-Tool für Boundary Scan
Gräfelfing/Richardson, Texas (12. Januar 2006) – Der neue DFT-Analyzer (Design-For-Test) von ASSET InterTech (www.asset-intertech.com), das erste Design-for-Test-Tool für Boundary Scan (IEEE 1149.1/JTAG) der Industrie, ist mit dem „Best In Test”-Preis von Test & Measurement World, einer der führenden Fachzeitschriften der elektronischen Testbranche, ausgezeichnet worden. Damit hat ASSET zum dritten Mal in Folge die Auszeichnung „Best In Test“ gewonnen.
ASSET ist ein international führendes Unternehmen im Bereich Boundary-Scan-Test und In-System Programming (ISP). In den vergangenen zwei Jahren erhielt das JTAG-System ScanWorks® der Firma den „Best in Test“-Titel als erste Boundary-Scan-Lösung zum Testen der schnellen AC-gekoppelten Busse nach dem IEEE 1149.6 Standard und für die TopCAT™ Technologie, die die automatische Generierung von JTAG-Tests nachhaltig beschleunigt. Im Rahmen des „Best In Test“-Programms 2006 wurde der DFT Analyzer von ASSET mit einer „Honorable Mention“ hervorgehoben.
„Angesichts der Tatsache, dass ScanWorks zwei Jahre in Folge und DFT Analyzer jetzt einmal die „Best in Test“-Auszeichnung erhalten hat, freuen wir uns sehr, dass all die harte Arbeit durch die Anerkennung der Industrie belohnt wird“, kommentiert Reg Waller, European Director von ASSET InterTech. „Das ist besonders ermutigend in diesem Jahr, da der DFT Analyzer das erste Boundary Scan DFT-Tool in seiner Klasse ist. Wir gehen davon aus, dass der DFT Analyzer Boundary Scan DFT-Prozesse tiefer im Designprozess verankern wird, was erhebliche Vorteile für Hersteller mit sich bringt.“
ScanWorks von ASSET wird derzeit von führenden Elektronikunternehmen wie Cisco, Lucent Technologies, Agilent, BAE, Hewlett-Packard, Ericsson, Alcatel, SBS, Intel, Raytheon, Solectron, Rockwell Collins, EMC und vielen anderen eingesetzt.
Der DFT Analyzer reduziert die Herstellungs- und Testkosten durch Prüfung der Boundary Scan DFT-Funktionen von Boundary Scan in einem Leiterplattendesign noch vor dem Bau eines Prototyps. Damit lassen sich teure Redesign-Durchläufe und Terminverschiebungen vermeiden, die sich oft durch unzureichende Testabdeckung beim Übergang eines Designs von der Entwicklungs- in die Fertigungsphase ergeben. Der DFT Analyzer ermittelt auch den Grad der Boundary-Scan-Testabdeckung und empfiehlt Änderungen im Design, die die Abdeckung erhöhen.
Der DFT Analyzer besteht aus drei Tools, die in verschiedenen Phasen der Produktentwicklung zum Einsatz kommen. Bei der Schaltplanentwicklung wird der Designer zunächst mithilfe einer automatisierten Checkliste zu den Merkmalen der Testbarkeit befragt . Nach der Erfassung von CAD-Informationen (Computer Aided Design) wird als nächstes ein Design Validation Tool gestartet. Auf der Grundlage der CAD-Daten bestimmt das Design Validation Tool, ob vorhandene DFT-Regeln gebrochen wurden. Schließlich wird in der Endphase des Designs eine Analyse der Testabdeckung durchgeführt, bevor Prototypen hergestellt werden. Dieses Tool bestimmt den Grad der Boundary-Scan-Testabdeckung und verweist auf Stellen, an denen physische Testpunkte überflüssig sind.
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Über ASSET InterTech
ASSET InterTech mit Sitz in Dallas, Texas, entwickelt, vermarktet, vertreibt und unterstützt weltweit Produkte für Boundary-Scan-Testmethoden und In-System Programmierung (ISP). ScanWorks von ASSET ist einfach zu bedienen, aber dennoch leistungsfähig, wodurch schnell und einfach Halbleiter, Leiterplatten oder ganze Systeme während jeder Phase des Produktlebenszyklus, vom Design über die Herstellung bis hin zur Wartung, getestet werden können. Die ISP-Fähigkeit von ScanWorks kann dazu benutzt werden, Software oder Daten auf programmierbare Bausteine zu laden, nachdem die Leiterplatten mit diesen bestückt wurden. Die ScanWorks-Familie basiert auf einem Standard der IEEE (International Electronics and Electrical Engineering Society) und ist bekannt als IEEE 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan-Testspezifizierung. Weitere Informationen unter www.asset-intertech.com.
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