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National Instruments Germany GmbH

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Silke Loos National Instruments Germany GmbH Ganghoferstraße 70 b * 80339 München Tel.: +49 89 7413130 * Fax: +49 89 7146035 info.germany@ni.com * ni.com/germany

Über das Unternehmen

Über National Instruments
National Instruments (www.ni.com) revolutioniert die Art und Weise, wie Ingenieure und Wissenschaftler Design, Prototyperstellung und Serieneinsatz von Systemen für Mess-, Automatisierungs- und Embedded-Anwendungen bewerkstelligen. NI stellt seinen Kunden Standardsoftware wie NI LabVIEW sowie modulare, kostengünstige Hardware zur Verfügung und beliefert über 30.000 Unternehmen in der ganzen Welt. Dabei ist selbst der größte Kunde nicht mit mehr als 3 % und kein Industriezweig mit mehr als 15 % am Gesamtumsatz beteiligt. Das im texanischen Austin beheimatete Unternehmen beschäftigt weltweit mehr als 5.200 Mitarbeiter und unterhält Direktvertriebsbüros in mehr als 40 Ländern.

In den vergangenen elf aufeinander folgenden Jahren kürte das Wirtschaftsmagazin FORTUNE NI zu einem der 100 arbeitnehmerfreundlichsten Unternehmen in den USA. Der deutschen Niederlassung NI Germany gelang 2004, 2005, 2008, 2009 und 2010 eine Auszeichnung beim Wettbewerb „Deutschlands Beste Arbeitgeber“ (siehe auch: www.greatplacetowork.de). NI-Aktien werden unter dem Kürzel NATI an der Nasdaq gehandelt. Nähere Informationen hierzu erhalten Sie vom NI Investor Relations Department unter der Telefonnummer +1 512 683-5090, per E-Mail an E-Mail sowie im Internet unter ni.com/nati. Aktuelle Informationen zu Verfügbarkeit und Preisen der einzelnen Produkte finden Sie im Online-Katalog unter ni.com/products/d.

Aktuelle Pressemitteilungen von National Instruments Germany GmbH
DIAdem-2010-Tage von National Instruments
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DIAdem-2010-Tage von National Instruments

Pressemitteilung, im September 2010 – Ab dem 23. November veranstaltet National Instruments die DIAdem-2010-Tage in mehreren Städten in Deutschland. Experten aus der Softwareentwicklung und Anwender verraten ihre Tricks für einen einfachen Umgang mit NI DIAdem. Diese Datenverwaltungs-Software ermöglicht es, Mess- und Simulationsdaten leicht zu finden, zu sichten, zu analysieren und in Berichten auszuwerten. National Instruments brachte vor Kurzem die neuste Version DIAdem 2010 heraus. Bei den DIAdem-2010-Tagen werden anhand konkreter Beispie…
27.09.2010
Bild: NI DIAdem 2010 vereinfacht die Berichterstellung und verbessert die DatenvisualisierungBild: NI DIAdem 2010 vereinfacht die Berichterstellung und verbessert die Datenvisualisierung
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NI DIAdem 2010 vereinfacht die Berichterstellung und verbessert die Datenvisualisierung

Pressemitteilung, 17. August 2010 – National Instruments (Nasdaq: NATI) gibt die Markteinführung von NI DIAdem 2010 bekannt, die aktuelle Version der Datenverwaltungssoftware. Diese unterstützt Anwender dabei, die während der Datenerfassung oder Simulation aufgezeichneten Daten besser zu verwalten, zu analysieren und in Berichten zu präsentieren. Die neue Version von DIAdem beinhaltet GPS-Synchronisation, Wiedergabe von Audiodaten und eine größere Anzahl von Funktionen für die Offline-Analyse und Berichterstellung. Durch diese Kombination bie…
27.09.2010
Bild: National Instruments und LPE Technische Medien GmbH gründen Lehrerfortbildungszentrum für MINT (MINT-LFZ)Bild: National Instruments und LPE Technische Medien GmbH gründen Lehrerfortbildungszentrum für MINT (MINT-LFZ)
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National Instruments und LPE Technische Medien GmbH gründen Lehrerfortbildungszentrum für MINT (MINT-LFZ)

Pressemitteilung, 10. August 2010 – National Instruments (Nasdaq: NATI) gibt die Gründung des MINT-LFZ in Kooperation mit LPE Technische Medien GmbH bekannt. Das Lehrerfortbildungszentrum für Mathematik, Informatik, Naturwissenschaft und Technik ist gegründet worden, um Lehrern aller Schulformen und Ausbildern die Möglichkeit zu geben, sich in den Bereichen Robotik und Messtechnik weiterzubilden. Um dies zu gewährleisten, bietet das MINT-LFZ ein umfangreiches Kursprogramm an: Vom 5. – 7. Oktober dauert die erste Kurswoche, bei der über drei …
26.08.2010
Bild: NI LabVIEW 2010 optimiert Compiler für schnellere Ausführung von LabVIEW-AnwendungenBild: NI LabVIEW 2010 optimiert Compiler für schnellere Ausführung von LabVIEW-Anwendungen
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NI LabVIEW 2010 optimiert Compiler für schnellere Ausführung von LabVIEW-Anwendungen

Pressemitteilung, 2. August 2010 – National Instruments (Nasdaq: NATI) gab heute die Markteinführung von LabVIEW 2010 bekannt, der neuesten Version der grafischen Programmierumgebung für Design-, Prüf-, Mess-, Steuer- und Regelanwendungen, die mit neuen Funktionen zu Zeitersparnissen beiträgt. Dazu gehören neueste Compiler-Technologien, die Anwendungen um durchschnittlich 20 Prozent schneller ausführen, und ein großer Marketplace (offene eCommerce-Plattform) für die Evaluierung und den Erwerb von Add-on-Toolkits, wodurch benutzerspezifische F…
02.08.2010
Bild: 15.Technologie- und Anwenderkongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis – VIP 2010“ von National InstrumentsBild: 15.Technologie- und Anwenderkongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis – VIP 2010“ von National Instruments
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15.Technologie- und Anwenderkongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis – VIP 2010“ von National Instruments

Pressemitteilung im Juli 2010 – Am 27. und 28. Oktober veranstaltet National Instruments bereits zum 15. Mal den Technologie- und Anwenderkongress VIP 2010 „Virtuelle Instrumente in der Praxis“. Technologie- und Anwendervorträge, eine große Fachausstellung mit über 30 Produktpartnern und Systemintegratoren sowie Workshops machen den Kongress im Veranstaltungsforum Fürstenfeld bei München zu einer einzigartigen Wissensplattform mit einem breit gefächerten Themenangebot. Dieses Jahr findet der Kongress wieder zweitägig statt. Selbstverständlich…
29.07.2010
Bild: National Instruments veröffentlicht neue Produkte zur Anbindung von NI LabVIEW an industrielle NetzwerkeBild: National Instruments veröffentlicht neue Produkte zur Anbindung von NI LabVIEW an industrielle Netzwerke
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National Instruments veröffentlicht neue Produkte zur Anbindung von NI LabVIEW an industrielle Netzwerke

Neue Schnittstellen für PROFIBUS, FOUNDATION Fieldbus und DeviceNet ermöglichen die Ergänzung bestehender SPSen und DCS-basierter Systeme um Hochgeschwindigkeitsmessungen, benutzerdefinierte Steuerung/Regelung und Internetanbindung - Pressemitteilung, 8. Juni 2010 – National Instruments (Nasdaq: NATI) gibt die Markteinführung neuer Schnittstellen für PROFIBUS, FOUNDATION Fieldbus und DeviceNet bekannt, die es Anwendern ermöglichen, NI LabVIEW, PAC- (Programmable Automation Controllers) und Embedded-Systeme in bestehende industrielle Netzwerk…
22.07.2010
Bild: National Instruments erweitert sein Produktangebot an Embedded Vision Systems auf Camera Link und Windows 7Bild: National Instruments erweitert sein Produktangebot an Embedded Vision Systems auf Camera Link und Windows 7
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National Instruments erweitert sein Produktangebot an Embedded Vision Systems auf Camera Link und Windows 7

NI Embedded Vision Systems bieten eine leistungsstarke und zuverlässige Lösung für die industrielle Bildverarbeitung - Pressemitteilung, 19. Juli 2010 – National Instruments (Nasdaq: NATI) gab heute bekannt, dass NI Embedded Vision Systems um die Unterstützung des Betriebssystems Windows 7 und die Kameraanbindung über Camera Link erweitert wurden. Ingenieure in den Bereichen Produktion und Fertigung sowie Systemintegratoren erhalten dadurch drei neue Optionen für die Entwicklung leistungsstarker Lösungen für die industrielle Bildverarbeitung…
22.07.2010
Bild: National Instruments bringt Camera-Link-Modul für FPGA-basierte Bildverarbeitung auf den MarktBild: National Instruments bringt Camera-Link-Modul für FPGA-basierte Bildverarbeitung auf den Markt
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National Instruments bringt Camera-Link-Modul für FPGA-basierte Bildverarbeitung auf den Markt

Das neue Modul NI 1483 erweitert NI-FlexRIO-Plattform um Camera-Link-Anbindung - Pressemitteilung, 7. Juni 2010 – National Instruments (Nasdaq: NATI) gibt die Markteinführung eines neuen Bildverarbeitungsmoduls für die PXI-Plattform bekannt. Es stellt eine leistungsstarke Architektur für die parallele Verarbeitung für hardwaregesteuertes Timing, Steuerung, Regelung und die Bildvorverarbeitung zur Verfügung. Das neue Camera-Link-Adaptermodul NI 1483 bietet in Verbindung mit einer NI-FlexRIO-FPGA-Karte eine Lösung für die Integration von Algor…
22.07.2010
Kostenloses Praxisseminar: Virtuelle Instrumente für Mess- und Prüfsysteme der nächsten Generation
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Kostenloses Praxisseminar: Virtuelle Instrumente für Mess- und Prüfsysteme der nächsten Generation

Pressemitteilung im Juli 2010 – Ab dem 8. September tourt National Instruments wieder mit einer topaktuellen und kostenlosen Seminarreihe durch Deutschland, Österreich und die Schweiz. Unter dem Thema „Virtuelle Instrumente für Mess- und Prüfsysteme der nächsten Generation“ wird der Fokus diesmal auf verschieden messtechnische Konzepte, Technologien und Architekturen gelegt, die in den Bereichen Forschung und Entwicklung, Prüfstandautomatisierung sowie Fertigungs- und Baugruppentest zum Einsatz kommen. Das Praxisseminar baut im Besonderen au…
20.07.2010
Bild: Engagement für Frauen in MINT-Berufen wächst: NI ist neuer Pakt-Partner beim Nationalen Pakt „Komm, mach MINT“Bild: Engagement für Frauen in MINT-Berufen wächst: NI ist neuer Pakt-Partner beim Nationalen Pakt „Komm, mach MINT“
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Engagement für Frauen in MINT-Berufen wächst: NI ist neuer Pakt-Partner beim Nationalen Pakt „Komm, mach MINT“

Mehr Frauen für MINT! Mit dieser Zielsetzung engagiert sich das internationale Technologieunternehmen National Instruments mit der National Instruments Germany GmbH als jüngster Paktpartner beim Nationalen Pakt für mehr Frauen in MINT-Berufen „Komm, mach MINT.“. „Wir freuen uns sehr, dass National Instruments Germany als neuer Paktpartner das Bündnis engagiert unterstützt und ihm weitere gezielte Impulse verleiht“, betont Susanne Witteriede, Leiterin der Geschäftsstelle Nationaler Pakt für Frauen in MINT-Frauen „Komm, mach MINT.“. National …
12.07.2010
Bild: National Instruments’ Embedded-Netzwerkplattform NI-XNET jetzt mit LIN-Bus-UnterstützungBild: National Instruments’ Embedded-Netzwerkplattform NI-XNET jetzt mit LIN-Bus-Unterstützung
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National Instruments’ Embedded-Netzwerkplattform NI-XNET jetzt mit LIN-Bus-Unterstützung

Neue Schnittstellen eignen sich für Hardware-in-the-Loop-Simulation, Rapid Control Prototyping, Busüberwachung und automatisierte Steuerungen- Pressemitteilung, 14. Juni 2010 – National Instruments (Nasdaq: NATI) bringt neue PXI- und PCI-Schnittstellen auf den Markt, welche die NI-XNET-Plattform erweitern. Somit können Anwender jetzt auch eine Anbindung an den Kommunikationsbus LIN (Local Interconnect Network) realisieren. Die neuen LIN-Schnittstellen NI PXI-8516 und NI PCI-8516 ermöglichen die Entwicklung von LIN-Anwendungen in NI LabVIEW, …
08.07.2010
Bild: NI stellt WLAN Measurement Suite 2.0 für Wireless-LAN-Tests nach dem Standard IEEE 802.11n vorBild: NI stellt WLAN Measurement Suite 2.0 für Wireless-LAN-Tests nach dem Standard IEEE 802.11n vor
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NI stellt WLAN Measurement Suite 2.0 für Wireless-LAN-Tests nach dem Standard IEEE 802.11n vor

Verbesserte WLAN-Software-Toolkits und mehrkanalige RF-Messgeräte mit industrieweit besten Ergebnissen bei Geschwindigkeit und Genauigkeit- Pressemitteilung, 24. Mai 2010 – National Instruments (Nasdaq: NATI) stellt eine neue Lösung für Wireless-LAN-Messungen nach dem Standard IEEE 802.11n vor, die NI WLAN Measurement Suite 2.0. Sie beinhaltet ein verbessertes Software-Toolkit für die Signalerzeugung und -analyse mit WLAN nach dem Standard IEEE 802.11n. Die Suite umfasst die mehrkanaligen RF-Signalgeneratoren und -analysatoren für Signale bi…
08.07.2010
Bild: NI gibt Verfügbarkeit von über 100 Modulen der C-Serie für benutzerdefinierte Anwendungen bekanntBild: NI gibt Verfügbarkeit von über 100 Modulen der C-Serie für benutzerdefinierte Anwendungen bekannt
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NI gibt Verfügbarkeit von über 100 Modulen der C-Serie für benutzerdefinierte Anwendungen bekannt

Pressemitteilung, 18. Mai 2010 – National Instruments (Nasdaq: NATI) gibt bekannt, dass inzwischen über 100 Module der C-Serie verfügbar sind. Dabei stammen 50 Module von NI selbst und 50 weitere von Drittanbietern. Darüber hinaus sind zahlreiche Chassis erhältlich, so dass eine Vielzahl von Anforderungen an Mess- und Automatisierungsanwendungen mit den verfügbaren Konfigurationsoptionen abgedeckt werden können. So können Ingenieure und Wissenschaftler Module der C-Serie von NI in jedes beliebige Chassis der Produktfamilie einfügen, darunter …
08.07.2010
Bild: NI stellt leistungsstarke PXI-Express-Datenerfassungsmodule mit integrierter Signalkonditionierung vorBild: NI stellt leistungsstarke PXI-Express-Datenerfassungsmodule mit integrierter Signalkonditionierung vor
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NI stellt leistungsstarke PXI-Express-Datenerfassungsmodule mit integrierter Signalkonditionierung vor

Module für direkte Messungen mit Dehnungsmessstreifen, Thermoelementen und zur Erfassung hoher Spannungen für Messsysteme mit hoher Kanalanzahl und Genauigkeit - Pressemitteilung, 25. Mai 2010 – National Instruments (Nasdaq: NATI) gibt die Markteinführung seiner ersten Datenerfassungsmodule mit integrierter Signalkonditionierung für erweiterbare, leistungsstarke Messungen auf PXI-Express-Basis bekannt. Die neue Produktfamilie NI SC Express bietet höhere Genauigkeit, einen hohen Datendurchsatz und die industrieweit beste Synchronisation zur D…
02.06.2010
Bild: National Instruments führt PXI-Express-Controller mit Quad-Core-Prozessor Intel® Core™ i7 einBild: National Instruments führt PXI-Express-Controller mit Quad-Core-Prozessor Intel® Core™ i7 ein
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National Instruments führt PXI-Express-Controller mit Quad-Core-Prozessor Intel® Core™ i7 ein

Der Embedded-Controller bietet im Vergleich zu Vorgängermodellen eine Verdopplung der Verarbeitungsleistung und des Datendurchsatzes - Pressemitteilung, 17.Mai 2010 – National Instruments (Nasdaq: NATI) gibt heute die Markteinführung des leistungsstarken Embedded-Controllers NI PXIe-8133 bekannt, der auf dem Quad-Core-Prozessor Intel® Core™ i7-820QM basiert. Dieser neue Controller ist der branchenweit erste PXI-Express-Controller mit vier Prozessorkernen. Durch Kombination der neuesten Technologie von Intel sowie Weiterentwicklungen des PCI…
02.06.2010
Bild: NI präsentiert PXI/CompactPCI-Backplanes für OEMs im Bereich Embedded-Test, -Steuerung und -RegelungBild: NI präsentiert PXI/CompactPCI-Backplanes für OEMs im Bereich Embedded-Test, -Steuerung und -Regelung
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NI präsentiert PXI/CompactPCI-Backplanes für OEMs im Bereich Embedded-Test, -Steuerung und -Regelung

Backplanes eignen sich hervorragend für anwenderseitige Anpassung von Messgeräten sowie für OEMs für Luft- und Raumfahrt- und industrielle Embedded-Lösungen - Pressemitteilung, 26.April 2010 – National Instruments (Nasdaq: NATI) bietet ab sofort Backplane-Platinen auf Basis eines industrieweit führenden PXI/CompactPCI- und PXI-Express-Chassis. OEMs können die Backplanes in Anwendungen von der Luft- und Raumfahrt über die Verteidigungstechnik bis hin zur industriellen Embedded-Steuerung und -Regelung einsetzen. Ingenieure und Wissenschaftler …
02.06.2010
Die Webcast-Meisterschaft 2010 von National Instruments
National Instruments Germany GmbH

Die Webcast-Meisterschaft 2010 von National Instruments

Exklusiv-Weiterbildung in kostenfreier Online-Veranstaltungsreihe „Month of Webcasts“ im Juni 2010 - Pressemitteilung, April 2010 – Passend zur diesjährigen Fußball-Weltmeisterschaft präsentiert National Instruments (Nasdaq: NATI) vom 7. Juni bis 8. Juli 2010 eine Veranstaltungsreihe der besonderen Art: Unter dem Motto „Die Webcast-Meisterschaft 2010 – Mit 24 Webcasts zum Pokal der Mess- und Automatisierungstechnik“ bietet NI Interessenten im Rahmen des „Month of Webcasts“ jeden Tag die Möglichkeit, bequem vom Schreibtisch aus zwei spannende…
03.05.2010
Erster NI MedTech Day von National Instruments Design und Test in der Medizintechnik
National Instruments Germany GmbH

Erster NI MedTech Day von National Instruments Design und Test in der Medizintechnik

Pressemitteilung im April 2010 – Am 10. Juni 2010 veranstaltet National Instruments in Zürich zum ersten Mal den NI MedTech Day für Experten aus dem Bereich Medizintechnik des gesamten deutschsprachigen Raums. Der NI MedTech Day bietet ein umfangreiches Kongressprogramm, das sich in zwei parallelen Tracks den Schwerpunkten Medical Device Test und Medical Device Design widmet. In zahlreichen Technologievorträgen von NI-Experten erhalten die Teilnehmer einen Überblick über kosteneffiziente Hardware- und Softwareplattformen, die sowohl bei der…
29.04.2010
Girls’Day @ National Instruments - National Instruments veranstaltet Girls’Day am 22. April
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Girls’Day @ National Instruments - National Instruments veranstaltet Girls’Day am 22. April

Pressemitteilung, 31. März 2010 – Am 22. April bietet National Instruments im Rahmen des deutschlandweiten Girls’Day - Mädchen-Zukunftstags interessierten jungen Mädchen Gelegenheit, in die Welt der Messtechnik zu schnuppern und ihren eigenen LEGO-Mindstorms-NXT®-Roboter zu programmieren. Erfahrene Ingenieurinnen von NI stellen die zahlreichen Aufgabengebiete und die Arbeitswelt von Ingenieuren vor und ermöglichen einen Blick hinter die Kulissen von National Instruments. Anhand praktischer Übungen erfahren die Teilnehmerinnen im Anschluss, …
09.04.2010
National Instruments präsentiert Lösung für phasenkohärente RF-Messungen
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National Instruments präsentiert Lösung für phasenkohärente RF-Messungen

Mehrkanalige RF-Signalgeneratoren und -analysatoren sind ideal für MIMO-Design und -Test der Standards 802.11n, LTE und WiMAX Pressemitteilung, 1. März 2010 – National Instruments (Nasdaq: NATI) stellt neue RF-Vektorsignalgeneratoren und RF-Vektorsignalanalysatoren für RF-Design- und -Prüfanwendungen nach dem MIMO-Verfahren (Multiple-Input-Multiple-Output) vor. Mit dem 6,6-GHz-RF-Vektorsignalanalysator NI PXIe-5663E und dem 6,6-GHz-RF-Vektorsignalgenerator NI PXIe-5673E können zwei-, drei- oder vierkanalige Systeme aufgebaut werden. Beide b…
08.04.2010
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