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National Instruments Germany GmbH

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Kontakt für Kunden Deutschland: National Instruments Germany GmbH Ganghoferstraße 70 b | 80339 München Tel.: +49 89 7413130 | Fax: +49 89 7146035 info.germany@ni.com | ni.com/germany Österreich: National Instruments GesmbH Plainbachstraße 12 | 5101 Salzburg-Bergheim Tel.: +43 662 457990-0 | Fax: +43 662 457990-19 ni.austria@ni.com | ni.com/austria Schweiz: National Instruments Switzerland Corp. Austin, Zweigniederlassung Ennetbaden Sonnenbergstrasse 53 | 5408 Ennetbaden Tel.: +41 56 2005151 | Fax: +41 56 2005155 ni.switzerland@ni.com | ni.com/switzerland

Über das Unternehmen

Über National Instruments
Seit 1976 stellt National Instruments (www.ni.com) Ingenieuren und Wissenschaftlern Werkzeuge zur Verfügung, mit denen sie schneller produktiv, innovativ und kreativ arbeiten können. Das Konzept des Graphical System Design gibt Anwendern eine Plattform mit integrierter Hard- und Software für die schnelle Entwicklung von Mess-, Steuer- und Regelsystemen an die Hand. NI stellt den Erfolg seiner Kunden mit einem Ökosystem aus Dienstleistungen, Support und mehr als 700 Alliance Partnern weltweit sicher. Das langfristige Ziel des Unternehmens ist, mit seinen Technologien einen Beitrag dazu zu leisten, unseren Alltag zu verbessern, unsere Gesellschaft zu unterstützen und den Herausforderungen der Menschheit als Ganzes zu begegnen. Dies gewährleistet den Erfolg von Angestellten, Zulieferern und Aktionären.

Aktuelle Pressemitteilungen von National Instruments Germany GmbH
Bild: Zweiter Vektorsignal-Transceiver von NI erweitert innovative softwaredesignte MessgeräteplattformBild: Zweiter Vektorsignal-Transceiver von NI erweitert innovative softwaredesignte Messgeräteplattform
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Zweiter Vektorsignal-Transceiver von NI erweitert innovative softwaredesignte Messgeräteplattform

Highlights • NI bietet eine I/Q-Schnittstelle bei dem neuen Vektorsignal-Transceiver (VST) an. Die VST-Produkte von NI kombinieren einen Vektorsignalgenerator und -analysator mit einem anwenderprogrammierbaren FPGA für die Signalverarbeitung, Steuerung und Regelung in Echtzeit. • Ingenieure können Vektorsignal-Transceiver mit der Systemdesignsoftware NI LabVIEW in ein neues Messgerät verwandeln oder bestehende Funktionalität erweitern. • Das neue VST-Modul bietet Basisband-I/Q-Funktionen, durch die die Testabdeckung bei RF-Transceiver-Tests …
09.04.2013
Technologieausblick 2013–Embedded-Systeme:Wichtige Trends bei Technologien,Anwendungen&Geschäftsentwicklungen
National Instruments Germany GmbH

Technologieausblick 2013–Embedded-Systeme:Wichtige Trends bei Technologien,Anwendungen&Geschäftsentwicklungen

Highlights • Der „Technologieausblick 2013 – Embedded-Systeme“ von National Instruments gibt einen Überblick über Technologie-, Anwendungs- und Geschäftstrends, die die Entwicklung von Embedded-Systemen in den kommenden ein bis drei Jahren prägen werden. • Mit den aus diesem Bericht gewonnenen Einblicken sind Ingenieure und Führungskräfte besser darauf vorbereitet, innovative Embedded-Systeme zu entwickeln und zu warten. Nürnberg – embedded world, 26. Februar 2013 – National Instruments (Nasdaq: NATI) stellt den „Technologieausblick 2013 – …
08.04.2013
11. Technologietag „Automatisiertes Testen“ in Radolfzell
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11. Technologietag „Automatisiertes Testen“ in Radolfzell

Pressemitteilung, April 2013 – Am 7. Mai 2013 veranstaltet die Konrad GmbH zusammen mit National Instruments zum elften Mal einen Technologietag zum Thema „automatisiertes Testen“ (ATE) im Milchwerk in Radolfzell. Auch dieses Jahr sind zahlreiche Entscheidungsträger und Testingenieure eingeladen, sich umfassend über Trends, Standards und COTS-Technologien (Commercial off-the-Shelf) zu informieren, die den Schlüssel zur Effizienzsteigerung von automatisierten Tests darstellen. Eröffnet wird der ATE-Technologietag von Francis Griffiths, Vice P…
08.04.2013
NI veröffentlicht Technologieausblick 2013 zu aktuellen Trends im Bereich automatisiertes Testen
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NI veröffentlicht Technologieausblick 2013 zu aktuellen Trends im Bereich automatisiertes Testen

Highlights • Der „Technologieausblick 2013 – Automatisiertes Testen“ gibt einen Überblick über aktuelle Geschäftsstrategien, Systemarchitekturen, Datenverarbeitung, Software und I/O, die sich gegenwärtig und zukünftig auf die Elektronikindustrie auswirken. • National Instruments profitiert von jahrzehntelanger Erfahrung im Bereich der automatisierten Testanwendungen bei der Prognostizierung von Trends, die sich aus langjährigen Geschäftsbeziehungen des Unternehmens, internem Fachwissen und der Forschungsarbeit von Drittanbietern ergeben. Pre…
08.04.2013
Bild: National Instruments erweitert PXI-Plattform für automatisierte Tests um 20 SchaltmoduleBild: National Instruments erweitert PXI-Plattform für automatisierte Tests um 20 Schaltmodule
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National Instruments erweitert PXI-Plattform für automatisierte Tests um 20 Schaltmodule

Highlights • 2012 stellte National Instruments 20 neue Schaltmodule für PXI und PXI Express vor, die vielfältige Leistungsbereiche abdecken, unterschiedliche Relaistypen einsetzen und so ein einfaches Routing von Signalen in Testsystemen mit hoher Kanaldichte ermöglichen. • Die neuen Module erweitern das breitgefächerte Angebot an NI-Schaltmodulen für die PXI-Plattform und erlauben die Entwicklung vollständiger automatisierter Testsysteme mit tausenden Kanälen oder mehreren Signaltypen. Pressemitteilung, 7. Januar 2013 – National Instruments…
26.02.2013
Bild: Neue NI-Vektorsignal-Transceiver-IPs erweitern Funktionsumfang für Mess- und PrüfanwendungenBild: Neue NI-Vektorsignal-Transceiver-IPs erweitern Funktionsumfang für Mess- und Prüfanwendungen
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Neue NI-Vektorsignal-Transceiver-IPs erweitern Funktionsumfang für Mess- und Prüfanwendungen

Highlights • Die neuen, kostenlosen IPs erweitern den Funktionsumfang softwaredesignter Messgeräte wie den Vektorsignal-Transceiver NI PXIe-5644R und helfen, sie benutzerdefiniert anzupassen. • Mit den vorgefertigten Beispielanwendungen lässt sich die Systementwicklungszeit für gängige RF- und Wireless-Anwendungen verkürzen. Pressemitteilung, 21. Januar 2013 – National Instruments (Nasdaq: NATI) führt 10 neue Anwendungs-IPs auf dem Markt ein, die Anwender mit der Systemdesignsoftware NI LabVIEW für die Erstellung eigener benutzerdefinierter …
26.02.2013
Bild: Neuer NI-PXI-Digitizer und Update zum NI LabVIEW Jitter Analysis Toolkit erhöhen Flexibilität und LeistungBild: Neuer NI-PXI-Digitizer und Update zum NI LabVIEW Jitter Analysis Toolkit erhöhen Flexibilität und Leistung
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Neuer NI-PXI-Digitizer und Update zum NI LabVIEW Jitter Analysis Toolkit erhöhen Flexibilität und Leistung

Highlights • Der Digitizer NI PXIe-5162 und das NI LabVIEW Jitter Analysis Toolkit verdeutlichen die Flexibilität und benutzerdefinierte Anpassbarkeit im Vergleich zu Stand-alone-Oszilloskopen. • Durch die Verbindung des 4-Kanal-Digitizers NI PXIe-5162 mit der PXI-Plattform können Anwender ein Oszilloskop mit bis zu 68 Kanälen in einem Chassis mit nahtloser Synchronisation erstellen. Pressemitteilung, 28. Januar 2013 – National Instruments (Nasdaq: NATI) stellt den Digitizer NI PXIe-5162 und die aktualisierte Version des NI LabVIEW Jitter A…
26.02.2013
NIDays 2013 - 16. Technologie- und Expertenkongress in Wien
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NIDays 2013 - 16. Technologie- und Expertenkongress in Wien

Pressemitteilung, Januar 2013 – National Instruments veranstaltet zum 16. Mal den Technologie- und Expertenkongress „NIDays“, der am 17. April 2013 im Studio 44 der Österreichischen Lotterien in Wien stattfindet. Die rund 150 erwarteten Besucher können sich in fünf verschiedenen Vortragsreihen zu folgenden Themen informieren: „Automatisierte Prüfsysteme“, „Embedded Control and Monitoring“, „Industrielle Datenerfassung und Prüfsysteme“, „LabVIEW Power Programming“ sowie „Versuchssteuerung, Technisches Datenmanagement und Bildverarbeitung“. Im…
23.01.2013
Messtechnik powered by NI - kostenfreies Seminar
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Messtechnik powered by NI - kostenfreies Seminar

Pressemitteilung im Januar 2013 – Am 29. Januar 2013 startet die innovative und kostenfreie Seminartour „Messtechnik powered by NI“ mit Terminen in Deutschland, Österreich und der Schweiz. Im Mittelpunkt des Seminars von National Instruments stehen Technologien und neue Produkte von der Datenerfassung bis hin zu automatisierten Testabläufen. Zu den Themenschwerpunkten des Seminars zählen die standardisierte Industrieplattform PXI, die seit mehr als 15 Jahren die Grundlage für automatisierte Mess- und Prüfsysteme darstellt, sowie weitere modu…
23.01.2013
Bild: Der Analysator NI PXIe-1491 für Audio- und Videosignale automatisiert Tests von HDMI- und mobilen GerätenBild: Der Analysator NI PXIe-1491 für Audio- und Videosignale automatisiert Tests von HDMI- und mobilen Geräten
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Der Analysator NI PXIe-1491 für Audio- und Videosignale automatisiert Tests von HDMI- und mobilen Geräten

Highlights • Mit dem NI PXIe-1491 lässt sich der Test von HDMI-, DVI- und mobilen HD-Geräten im Hinblick auf schnellere Testzeiten und höheren Durchsatz automatisieren. • Anwender können mit dem neuen Analysator digitale Protokolle wie CEC, EDID, HPD, ARC und HEC analysieren, um die Interoperabilität zu gewährleisten. • Der PXIe-1491 verbessert die Wiederholbarkeit von Audio- und Videoleistungstests mit objektiven Messungen in Echtzeit mithilfe der Software NI Picture Quality Analysis. Pressemitteilung, 8. Januar 2013 – National Instruments …
23.01.2013
Bild: NI LabWindowsTM/CVI 2012 beschleunigt Entwicklung von Mess- und PrüfanwendungenBild: NI LabWindowsTM/CVI 2012 beschleunigt Entwicklung von Mess- und Prüfanwendungen
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NI LabWindowsTM/CVI 2012 beschleunigt Entwicklung von Mess- und Prüfanwendungen

Highlights • NI LabWindowsTM/CVI 2012 ist ein wichtiges Upgrade der ANSI-C-basierten Entwicklungsumgebung für Mess- und Prüfanwendungen mit vielen neuen und verbesserten Werkzeugen, die Anwender dabei unterstützen, ihre Systeme schneller zu entwickeln. • Die Software eignet sich besonders für Anwender in stark regulierten Branchen wie der Medizintechnik, dem Verteidigungswesen und der Luft- und Raumfahrt, da sie Anwendungen vor unerwünschten Aktualisierungen schützt, wodurch sich Revalidierungen bestehender Versionen vermeiden lassen. • Neue …
14.12.2012
Jetzt über 10.000 Messgerätetreiber im NI Instrument Driver Network
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Jetzt über 10.000 Messgerätetreiber im NI Instrument Driver Network

Highlights • Das Instrument Driver Network (IDNet) von National Instruments ist die größte Sammlung kostenloser Open-Source-Messgerätetreiber: Sie umfasst nun mehr als 10.000 Messgerätetreiber für die Automatisierung von über 100 Messgerätetypen von mehr als 350 Herstellern, darunter Agilent, Tektronix, Keithley, Rohde & Schwarz, Anritsu und LeCroy. • NI stellt außerdem LabVIEW Instrument Driver Development Studio vor, ein kostenloses Softwarewerkzeug, das dem Anwender Zeit spart und die Konsistenz gewährleistet, wenn Plug-and-play-Messgerät…
14.12.2012
Bild: National Instruments stellt sechs neue Module der C-Serie mit neuer Funktionalität und Anschlussoptionen vorBild: National Instruments stellt sechs neue Module der C-Serie mit neuer Funktionalität und Anschlussoptionen vor
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National Instruments stellt sechs neue Module der C-Serie mit neuer Funktionalität und Anschlussoptionen vor

Highlights • National Instruments erweitert die Plattform der C-Serie um sechs Module mit neuen Funktionen und Anschlussoptionen für NI CompactRIO und NI CompactDAQ. • Mit mehr als 100 verschiedenen Modulen, wie Thermoelementen, Spannungs-, Strom-, Widerstands- und Dehnungsmessern, können Anwender mit der Plattform der C-Serie beinahe jede Messung präzise durchführen. • Die neuen Timing- und Synchronisationsmodule für CompactRIO- und NI-CompactDAQ-Systeme unterstützen Anwender dabei, Messsysteme in größerem Umfang zu erstellen. Pressemitte…
14.12.2012
Bild: National Instruments erneut einer der 25 besten Arbeitgeber weltweitBild: National Instruments erneut einer der 25 besten Arbeitgeber weltweit
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National Instruments erneut einer der 25 besten Arbeitgeber weltweit

Pressemitteilung, 14. November 2012 – National Instruments (Nasdaq: NATI) belegt auf der aktuellen Liste der World’s Best Multinational Workplaces Platz 16 und zählt damit bereits das zweite Jahr in Folge zu den 25 multinationalen Spitzenarbeitgebern weltweit. Mark Finger, Vice President of Human Resources bei NI, nahm die Auszeichnung zusammen mit den Verantwortlichen anderer führender weltweiter Unternehmen auf einer Galaveranstaltung im Asian Art Museum in San Francisco entgegen. Zu den Unternehmen, die ebenfalls geehrt wurden, gehören u. …
26.11.2012
Bild: Neuer NI-Controller für die Rackmontage und neuer dezentraler PXI-Express-ControllerBild: Neuer NI-Controller für die Rackmontage und neuer dezentraler PXI-Express-Controller
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Neuer NI-Controller für die Rackmontage und neuer dezentraler PXI-Express-Controller

Highlights • Der erste robuste Controller für die Rackmontage und der neue dezentrale PXI-Express-Controller liefern leistungsstarke Datenübertragung und erweitern dabei die PXI-Plattformfunktionalität um die PC-Steuerung von Standard-Datenverarbeitungsplattformen. • Neue Produkte bieten eine äußerst leistungsfähige Kombination aus Datenverarbeitungsmöglichkeiten, mithilfe derer die Systemsteuerung von Peripheriemodulen in den PXI-Chassis getrennt wird. Pressemitteilung, 13. November 2012 – National Instruments (Nasdaq: NATI) erweitert die P…
26.11.2012
National Instruments gibt Unterstützung für den Standard USB3 Vision bekannt
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National Instruments gibt Unterstützung für den Standard USB3 Vision bekannt

Highlight • NI-Bildverarbeitungssoftware und die Systemdesignsoftware NI LabVIEW unterstützen den neuen Kamerastandard USB3 Vision, der auf dem USB-3.0-Protokoll beruht und zahlreiche Vorteile gegenüber bestehenden Standards bietet. Pressemitteilung, 7. November 2012 – National Instruments (Nasdaq: NATI) gibt bekannt, dass NI LabVIEW nun den neuen Kamerastandard USB3 Vision über das Treiberpaket NI Vision Acquisition Software unterstützt. Der Standard bietet deutliche Verbesserungen bei Leistung und Bedienfreundlichkeit gegenüber Kameras, di…
26.11.2012
Bild: National Instruments baut SMU-Produktfamilie auf hohe Kanaldichte ausBild: National Instruments baut SMU-Produktfamilie auf hohe Kanaldichte aus
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National Instruments baut SMU-Produktfamilie auf hohe Kanaldichte aus

Highlights • Bei dem neuen Modul NI PXIe-4143 handelt es sich um eine Hochgeschwindigkeits-Präzisions-SMU (Source Measure Unit) mit hoher Kanaldichte und sehr schnellen Sample-Raten. Dadurch ist es besonders für das parallele Testen von Halbleitergeräten mit mehreren Pins geeignet. • Die neue SMU verfügt über die Technologie NI SourceAdapt, mit der sie von Ingenieuren an jede beliebige Last benutzerdefiniert angepasst werden kann. Pressemitteilung, 10. Juli 2012 – National Instruments (Nasdaq: NATI) erweitert die Produktfamilie der PXI-SMUs…
26.11.2012
Bild: Neues SDR-Modul von National Instruments unterstützt Forschung an 5G-Wireless-TechnologieBild: Neues SDR-Modul von National Instruments unterstützt Forschung an 5G-Wireless-Technologie
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Neues SDR-Modul von National Instruments unterstützt Forschung an 5G-Wireless-Technologie

Highlights • Das RF-Transceiver-Adaptermodul NI 5791 stellt eine Schnittstelle für die NI-FlexRIO-FPGA-Module der PXI-Plattform zur Verfügung, die in einem zusammenhängenden Frequenzbereich von 200 MHz bis 4,4 GHz eine Bandbreite von 100 MHz bietet. • Der Transceiver wird gegenwärtig in einigen aktuellen Forschungsprojekten eingesetzt, die sich mit der 5. Generation (5G) des Mobilfunkstandards befassen, beispielsweise an Einrichtungen wie der TU Dresden, dem Polytechnic Institute of New York University oder der University of Notre Dame. • Das…
26.11.2012
Bild: NI-PXI-Vektornetzwerkanalysator reduziert Prüfkosten bei Herstellern von Halbleitern und mobilen GerätenBild: NI-PXI-Vektornetzwerkanalysator reduziert Prüfkosten bei Herstellern von Halbleitern und mobilen Geräten
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NI-PXI-Vektornetzwerkanalysator reduziert Prüfkosten bei Herstellern von Halbleitern und mobilen Geräten

Highlights • Der Vektornetzwerkanalysator (VNA) von NI erreicht durch schnelle automatisierte Messungen, eine funktionsreiche Messgerätearchitektur und vereinfachte Prüfsystem-entwicklung eine erhebliche Reduzierung der Prüfkosten. • Das neue NI-PXI-Express-Modul kombiniert hochentwickelte Messfunktionen eines VNA mit Messungen analoger und digitaler Hochgeschwindigkeitssignale, Präzisions-DC-Messungen und mehr in PXI-basierten Prüfsystemen. Pressemitteilung, 24. Oktober 2012 – National Instruments (Nasdaq: NATI) gibt die Markteinführung des…
31.10.2012
Bild: Branchenweit erstes PXI-Express-Chassis mit 18 Hybridsteckplätzen und x8-VerbindungenBild: Branchenweit erstes PXI-Express-Chassis mit 18 Hybridsteckplätzen und x8-Verbindungen
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Branchenweit erstes PXI-Express-Chassis mit 18 Hybridsteckplätzen und x8-Verbindungen

Highlights • Das Hybrid-Chassis NI PXIe-1085 bietet Anwendern die Möglichkeit, noch mehr leistungsstarke Messgeräte in einem einzigen Chassis zu kombinieren und so automatisierte Testsysteme mit mehr Funktionen zu erstellen. Gleichzeitig bleibt die Abwärtskompatibilität mit bestehenden Messgeräten erhalten. • Das neue Chassis verfügt über x8-PCI-Express-Verbindungen der 2. Generation zu jedem Steckplatz und bietet hohe Bandbreiten von 4 GB/s pro Steckplatz sowie eine Gesamtsystembandbreite von 12 GB/s. Pressemitteilung, 10. September 2012 – …
30.10.2012
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