(openPR) Highlights
• Bei dem neuen Modul NI PXIe-4143 handelt es sich um eine Hochgeschwindigkeits-Präzisions-SMU (Source Measure Unit) mit hoher Kanaldichte und sehr schnellen Sample-Raten. Dadurch ist es besonders für das parallele Testen von Halbleitergeräten mit mehreren Pins geeignet.
• Die neue SMU verfügt über die Technologie NI SourceAdapt, mit der sie von Ingenieuren an jede beliebige Last benutzerdefiniert angepasst werden kann.
Pressemitteilung, 10. Juli 2012 – National Instruments (Nasdaq: NATI) erweitert die Produktfamilie der PXI-SMUs für automatisierte Halbleitertests. Das neue NI PXIe-4143 eignet sich besonders für das parallele Testen von Prüflingen mit mehreren Pins im Halbleiterbereich. Es bietet eine Sample-Rate von bis zu 600 kS/s sowie vier SMU-Kanäle und erweitert den Ausgangsbereich von NI-SMUs mit mehreren Kanälen auf 24 V bei 150 mA. Aufgrund dieser Funktionen können die Anschaffungskosten gesenkt, Prüfzeiten verkürzt und die Flexibilität bei Mixed-Signal-Tests für zahlreiche Prüflinge erhöht werden.
Zitat
„Mit dem neuen NI PXIe-4143 gibt unsere SMU-Produktfamilie Testingenieuren Optionen für DC-Messungen mit beinahe jedem Gerät an die Hand“, erklärt Ron Wolfe, Vice President of Semiconductor Test bei National Instruments. „Dank sehr hoher Kanalanzahl, überragenden Sample-Raten und SourceAdapt-Technologie für eine benutzerdefinierte Anpassung können wir unseren Kunden eine äußerst flexible Auswahl an Messgeräten für den Halbleiterbereich zur Verfügung stellen.“
Überblick über die Funktionen
• Vier SMU-Kanäle mit einer Sample-Rate von bis zu 600 kS/s für das Messen von schnellem Einschwingverhalten
• Ausgang mit 24 V bei 150 mA im Vierquadrantenbetrieb zur Vervollständigung bestehender NI-SMU-Funktionalität für Quellen und Senken
• Empfindlichkeit bei Strommessungen von 10 pA
• Flexible, kompakte modulare PXI-Architektur für den Einsatz von Geräten mit geringem Platzbedarf
Weitere Informationen über SMUs:
• NI PXIe-4143 im Produktkatalog: http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/de/nid/210688
• NI PXIe-4142 im Produktkatalog: http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/de/nid/210689
• Video zur NI Source Adapt Technologie: http://zone.ni.com/wv/app/doc/p/id/wv-2760
• Mehr über NI-PXI-Technologie in Halbleitertests: http://www.ni.com/automatedtest/semiconductor/d/
Presseinformation
National Instruments baut SMU-Produktfamilie auf hohe Kanaldichte aus
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Über National Instruments
Seit 1976 stellt National Instruments (www.ni.com) Ingenieuren und Wissenschaftlern Werkzeuge zur Verfügung, mit denen sie produktiver, innovativer und kreativer arbeiten können. Das Konzept des Graphical System Design gibt Anwendern eine Plattform mit integrierter Hard- und Software für die schnelle Entwicklung von Mess-, Steuer- und Regelsystemen an die Hand. Das langfristige Ziel des Unternehmens ist, mit seinen Technologien einen Beitrag dazu zu leisten, unseren Alltag zu verbessern, unsere Gesellschaft zu unterstützen und den Herausforderungen der Menschheit als Ganzes zu begegnen. Dies gewährleistet den Erfolg von Kunden, Angestellten, Zulieferern und Aktionären.
Seit 1976 stellt National Instruments (www.ni.com) Ingenieuren und Wissenschaftlern Werkzeuge zur Verfügung, mit denen sie produktiver, innovativer und kreativer arbeiten können. Das Konzept des Graphical System Design gibt Anwendern eine Plattform mit integrierter Hard- und Software für die schnelle Entwicklung von Mess-, Steuer- und Regelsystemen an die Hand. Das langfristige Ziel des Unternehmens ist, mit seinen Technologien einen Beitrag dazu zu leisten, unseren Alltag zu verbessern, unsere Gesellschaft zu unterstützen und den Herausforderungen der Menschheit als Ganzes zu begegnen. Dies gewährleistet den Erfolg von Kunden, Angestellten, Zulieferern und Aktionären.
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