(openPR) Pressemitteilung, im September 2010 – Ab dem 23. November veranstaltet National Instruments die DIAdem-2010-Tage in mehreren Städten in Deutschland. Experten aus der Softwareentwicklung und Anwender verraten ihre Tricks für einen einfachen Umgang mit NI DIAdem. Diese Datenverwaltungs-Software ermöglicht es, Mess- und Simulationsdaten leicht zu finden, zu sichten, zu analysieren und in Berichten auszuwerten.
National Instruments brachte vor Kurzem die neuste Version DIAdem 2010 heraus. Bei den DIAdem-2010-Tagen werden anhand konkreter Beispiele eine Einführung in das Programm gegeben und anschließend die Neuerungen der Version 2010 demonstriert.
Besuchern werden u.a. folgende Neuerung vorgestellt:
• Schnellere Datensuchen in Dateibeständen unabhängig vom Dateiformat
• Integrierte Suchoberfläche und Programmierschnittstelle für ASAM-ODS-Datenquellen
• Sichten von synchronisierten Messkurven und GPS-Daten in Karten.
• Audioausgabe zu in Kurvenfenstern dargestellten Akustiksignalen
• Einfaches Erweitern der Standardfunktionen zur Datensichtung und –analyse
• Hervorheben von Kurvenbereichen durch eingefärbte Hintergrundsegmente
• Erweiterte Linearisierung und Offsetkorrektur für die Online-Datenerfassung
• Flexibel einstellbare automatische Achsenskalierung für die Online-Visualisierung
• Vereinfachte Erstellung von Skripten und Dialogen für automatisierte Lösungen
Dabei bietet sich Anwendern und Neueinsteigern die Gelegenheit, sich umfassend über alle Neuerungen, wie etwa die GPS-Kartendarstellung und die Formelgrafik, zu informieren.
Die Teilnahme am Seminar ist kostenlos. Alle Teilnehmer erhalten zudem ein umfassendes Handbuch mit detaillierten Informationen.
Anmeldemöglichkeiten, aktuelle Informationen, die ausführliche Agenda sowie alle Termine und Veranstaltungsorte finden Sie unter www.ni.com/german/veranstaltungen.
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