(openPR) Düsseldorf, 23. September 2011 – Kunden von Teradata (NYSE: TDC) werden auf dem 28. Deutschen Logistik-Kongress der Bundesvereinigung Logistik e.V. (BVL) erläutern, welche Chancen sich aus der integrierten Analyse großer Mengen multi-strukturierter Daten aus Quellen wie Sensoren, RFID oder Social Media (Big Data) sowie herkömmlichen Daten zur Lieferkette für Industrie, Handel und Logistik eröffnen. Bereits zum zweiten Mal ist Hermann Wimmer, President Europe, Middle East and Africa (EMEA) von Teradata, Mitglied der Jury des Deutschen Logistikpreises. Für den diesjährigen Kongress, der vom 19. bis 21. Oktober 2011 in Berlin stattfindet, erwartet die BVL mehr als 200 Aussteller und 3100 Teilnehmer.
„Die Logistikbranche hat erkannt, dass Daten weit mehr sind als ein Nebenprodukt ihrer Prozesse. Unternehmen sehen ihre Daten inzwischen als wertvollen Rohstoff, mit dem sie ihre Effizienz steigern und Wettbewerbsvorteile erzielen können“, sagte Wimmer. „Auf Basis eines Data Warehouse können Einzelhändler, Fertigungs- und Logistikunternehmen mit Erkenntnissen aus der Ursachen- und Risikoanalyse oder mit Hilfe von Frühwarnungen ihre Lieferketten in Echtzeit optimieren. Um das Potenzial der Datenanalyse voll auszuschöpfen, müssen Unternehmen alle einschlägigen Daten in einer zentralen Datenbank zusammenführen. Dies gilt sowohl für herkömmliche als auch für neuartige Datenquellen wie Sensoren, RFID oder Social Media. Das extreme Datenwachstum stellt eine große Herausforderung für die Unternehmen dar. Bis 2020 werden sie voraussichtlich über 44 Mal so viele Daten verfügen wie heute. Zugleich benötigen immer mehr Business-Anwender zeitnah Analysen, um fundierte Entscheidungen zu treffen. Die Möglichkeit, riesige Datenmengen zu beherrschen, wird überlebenswichtig.“
Auf dem diesjährigen Logistik-Kongress wird Bobby Ghoshal, Head of IT Strategy and Architecture bei Freescale Semiconductor, in seinem Vortrag „Big data analytics: advanced analytics for complete insight into manufacturing processes“ erklären, wie das Unternehmen hochauflösende Fotos der Halbleiterwafer mit weiteren Daten zur Temperatur und Luftfeuchtigkeit in sein Teradata Data Warehouse integriert. Durch die fortlaufende Analyse dieser Daten kann der Halbleiterhersteller die Ursachen für Produktionsfehler präzise bestimmen.
Der Vortrag von Freescale Semiconductor ist Teil der Fachsequenz „Erfolgsfaktor Information“, die die BVL in Kooperation mit Teradata organisiert hat. Professor Heinz-Jürgen Klepzig von der Hochschule Augsburg wird im Rahmen dieser Vortragsreihe sein Konzept des “analytischen Managements“ vorstellen. Die Fachsequenz findet am 19. Oktober um 15 Uhr in Raum Charlottenburg II/III des Veranstaltungshotels InterContinental statt.
