MicroNova präsentiert Testautomatisierung und HiL-Simulation auf der Automotive Testing Expo

(openPR) Live-Demo der neuen Version EXAM 3.0 gemeinsam mit MaTeLo sowie eines HiL-Simulators für Flexray

Vierkirchen, 04.05.2011: Die MicroNova AG nutzt die diesjährige Automotive Testing Expo in Stuttgart vom 17. bis 19. Mai 2011, um neben Hardware-in-the-Loop-(HiL)-Simulation das Portfolio für Testautomatisierung vorzustellen. Das Unternehmen zeigt unter anderem Live-Demos von EXAM 3.0 (EXtended Automation Method). Diese jüngste Version der bei Volkswagen konzernweit eingesetzten Testautomatisierung wurde erst im ersten Quartal des Jahres vorgestellt. MicroNova zeigt außerdem mit ihrem französischen Partner ALL4TEC das nahtlose Zusammenspiel von EXAM und MaTeLo, einem Tool zum modellbasierten Testen. Vorführungen von HiL-Simulatoren, beispielsweise für den Flexray-Einsatz, ergänzen das Messeangebot. MicroNova ist am Stand 1720 in Halle 1 bei National Instruments vertreten.

Besonderes Augenmerk gilt den erweiterten Funktionen von EXAM: Besucher können sich unter anderem das integrierte Debugging und den „Teach & Replay“-Modus anschauen. Interessant für Testanwender ist auch das Zusammenspiel mit MaTeLo, mit dessen Hilfe sich automatisiert Testfälle in EXAM erzeugen lassen. MicroNova zeigt neben einem HiL-Simulator für Flexray auch die Zusammenarbeit eines Simulators mit EXAM und MaTeLo.

„Die Testing Expo ist neben der Embedded in Nürnberg eine der zentralen Veranstaltungen der Branche. Wir nutzen diese Plattform daher, um unsere umfangreichen Testlösungen vorzustellen“, erläutert Arne Kusiek, Leiter Vertrieb & Marketing bei MicroNova. „Wir haben in den vergangenen Monaten große Schritte nach vorn gemacht, vor allem das Roll out von EXAM 3.0 war ein wichtiger Meilenstein. Ziel ist es, auch verstärkt Zulieferer von EXAM zu überzeugen. Die Möglichkeit, Testfälle und Bibliotheken auszutauschen, bietet für alle Nutzer einen großen Mehrwert.“