Oberflächen unter der chemischen Lupe: Neues XPS Gerät im Prüflabor der Tascon am Standort Sulzbach

Gegründet 1997 als Prüflabor für Flugzeitmassenspektrometrie (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, ToF-SIMS) zählt Tascon heute zu den international führenden Labors für diese Technologie, deren Anwendung wir ständig weiterentwickeln. Sie finden bei uns eine weltweit einzigartige Kombination von State-of-the-Art Geräten und Anwendungs-Know-How. Ende 2008 haben wir unsere Aktivitäten auf das Gebiet der niederenergetischen Ionenstreuung (Low Energy Ion Scattering, LEIS) erweitert und im Sommer 2009 in unserem Labor ein Gerät zur optischen Charakerisierung der Oberflächentopographie (Weißlichtinterferometrie, konfokale Mikroskopie) in Betrieb genommen. Zusammen mit der seit Anfang 2010 verfügbaren Photoelektronenspektroskopie (X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS) sind wir in der Lage, Oberflächen mit variabler Informationstiefe umfassend zu charakterisieren. Falls für die analytische Aufgabenstellung notwendig und sinnvoll, stehen Ihnen aber auch weitere oberflächenanalytische und nanoanalytische Techniken zur Verfügung, die wir z.T. in Kooperation mit Partnerlaboratorien anbieten.

Zur Zeit kümmern sich in unserem Labor 15 hoch qualifizierte Mitarbeiter, davon 10 mit Universitätsabschluss, um die analytischen Fragestellungen unserer Kunden. Ein breiter Erfahrungshintergrund ist uns dabei wichtig. Unsere Mitarbeiter haben Abschlüsse in Physik, Chemie, chemischer Verfahrenstechnik, Biologie, Biochemie und Geologie. Sie bilden sich ständig fort und sorgen für stets aktuelles Firmen-Know-How, nicht nur, was analytische Techniken angeht, sondern auch im Hinblick auf Produktionstechnologien.

Die tascon GmbH ist ein konzernunabhängiges Unternehmen in Privatbesitz.