10. ATE-Technologietag „Automatisiertes Testen“ von National Instruments Germany GmbH und Konrad GmbH

(openPR) Pressemitteilung, 7. April 2011 – Am 12. Mai 2011 veranstalten die National Instruments Germany GmbH und die Konrad GmbH gemeinsam bereits zum zehnten Mal einen Technologietag zum Thema „Automatisiertes Testen“ in Sindelfingen. Auch dieses Jahr sind Entscheidungsträger und Testingenieure der Branche eingeladen, um sich umfassend über Trends, Standards und COTS-Technologien zu informieren, die den Schlüssel zur Effizienzsteigerung im Bereich der automatisierten Tests darstellen.

In der Eröffnungskeynote zum Thema „Automated Test Outlook“ stehen die Einflüsse von kommerziellen Technologien (COTS) und neuen Prozessen auf die Effizienz des automatisierten Testens im Mittelpunkt.

Im Anschluss daran bietet der ATE-Technologietag zahlreiche praxisnahe Technologie- und Anwendervorträge zu Bereichen wie Funktionstest, In-Circuit-Test oder Boundary-Scan-Test, RF-Test, Halbleitertest sowie zu mechanischen Handling-Systemen.

Abgerundet wird das Kongressprogramm durch eine Podiumsdiskussion mit dem Titel „Gesamtkostenoptimierung durch Nutzung von Synergien unterschiedlicher Testphilosophien“.

Zusätzlich haben die Teilnehmer sowohl in den Pausen als auch im Anschluss an die Vorträge und während der Podiumsdiskussion die Möglichkeit, mit Experten und Fachkollegen zu diskutieren. Eine begleitende Ausstellung von führenden Unternehmen der Branche gewährt Einblicke in erfolgreich realisierte Projekte und eingesetzte Technologien.

Eine detaillierte Agenda und Anmeldemöglichkeiten stehen online unter: ni.com/german/technologietag zur Verfügung.