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AXI-System OptiCon X-Line 3D mit doppelseitiger AOI-Option aufgerüstet

09.12.200917:34 UhrIndustrie, Bau & Immobilien
Bild: AXI-System OptiCon X-Line 3D mit doppelseitiger AOI-Option aufgerüstet
AXI-System OptiCon X-Line 3D
AXI-System OptiCon X-Line 3D

(openPR) Für das Röntgeninspektionssystem OptiCon X-Line 3D bietet GÖPEL electronic die Option der integrierten doppelseitigen Automatischen Optischen Inspektion an. Damit schließt das Jenaer Unternehmen die Lücken beispielsweise zur Inspektion von Polaritäten, Aufdrucken, Farben oder Barcodes. Damit erhöht sich die Abdeckung optische detektierbarer Fehler auf nahezu 100%.

Die Integration der AOI-Module im OptiCon X-Line 3D ermöglicht eine Non-Stop Bildaufnahme der Baugruppen-Ober- und Unterseite parallel zur Röntgeninspektion ohne Einschränkung der Prüfgeschwindigkeit. Die AOI-Option gestattet die Aufnahme von Farbbildern mit einer Auflösung von 20µm. Das Modul kann wahlweise für die Untersuchung der Ober- und Unterseite bzw. die doppelseitige Inspektion der Baugruppe integriert werden.

Das OptiCon X-Line 3D ist durch den Einsatz der revolutionären GigaPixel-Technologie weltweit konkurrenzlos. Grundlage bildet dabei die Realtime-Multi-Angle Bildaufnahme, welche Prüfgeschwindigkeit von über 40cm²s bei vollständiger 3D-Erfassung der Baugruppe ermöglicht. Integrierte Rekonstruktionsverfahren basierend auf der digitalen Tomosynthese gestatten die definierte Auswertung von einzelnen Schichten der zu prüfenden Leiterplatte. Somit kann bei der Prüfung von doppelseitig bestückten Baugruppen eine Trennung von Ober- und Unterseite innerhalb eines Durchlaufprozesses vorgenommen werden. Für eine maximale Fehlererkennung an BGAs besteht die Möglichkeit Lötstellen in verschiedenen Ebenen zu analysieren und den Benetzungszustand zu ermitteln. Selbstverständlich sind mit dem System auch Lötverbindungen an IC-Pins und 2poligen Bauelementen, bedrahteten Bauteilen sowie das Vorhandensein von Lufteinschlüsse (Voids) detektierbar.

Das modulare Konzept ermöglicht Konfigurationsvarianten für 2D- und 3D-Systeme mit unterschiedlichen Prüfgeschwindigkeiten.

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