(openPR) Die hohe Nachfrage nach dem HALT Seminar, 16.-17. Oktober 2007, veranlasst das Center for Quality Engineering einen kurzfristigen Folgetermin anzubieten.
Vom 18. bis 19. Oktober 2007 findet ein weiteres HALT Seminar in München statt. Im HALT Seminar werden die theoretischen Grundlagen sowie die Vorteile von HALT (Highly Accelerated Life Test) und HASS (Highly Accelerated Stress Screening) vermittelt. Im anschliessenden HALT Workshop haben die Teilnehmer die Gelegenheit, an der HALT Anlage Praxiserfahrungen zum HALT Test zu sammen.
Ziel des HALT Tests ist es, eine höhere Zuverlässigkeit der Produkte und Systeme zu erreichen.
Durch HALT können bereits in der Entwicklungsphase Systeme und Produkte über ihre Spezifikationsgrenze hinaus hinsichtlich Temperatur und Vibration getestet werden. Die dadurch provozierten Ausfälle helfen Schwachstellen aufzudecken sowie die Funktions- und Zerstörungsgrenzen des Prüflings zu identifizieren. Im Unterschied zur traditionellen Umweltprüfung wird der Prüfling bei einem HALT Test nicht nach spezifizierten Umweltparametern qualifiziert, sondern solange stimuliert, bis es zu Ausfällen kommt, um Schwachstellen aufzudecken. Untersuchungen haben gezeigt, dass Schwachstellen, die man bei HALT innerhalb weniger Stunden oder Tage ermitteln kann, häufig die gleichen sind, welche in der Praxis erst nach Jahren zu Ausfällen führen.
Bei HASS handelt es sich um ein Prüfverfahren, das auf Basis von HALT die Qualität eines Serienproduktes prüft.
Weiterführende Informationen werden im HALT Seminar vermittelt.
Center for Quality Engineering, Nokia Siemens Networks GmbH & Co. KG
Hofmannstr. 50
81359 München
T: 089 722 35128
F: 089 722 24751
W: http://www.cqe-testlab.com
E: ![]()
Pressekontakt:
![]()









