(openPR) Große Auswahl an NFC- und ISO-Triggern, individuelle Hüllkurvenberechnung und NFC-/ISO-Messfunktionen erleichtern Auswertung analoger NFC-Signale und somit die Entwicklung und Integration von NFC-fähigen Geräten
Die mit dem SESAMES Award ausgezeichnete Software zur Designvalidierung von NFC-Geräten – das Design Validation Center – ist um ein weiteres einzigartiges Feature, ein NFC-Oszilloskop, erweitert worden. Dieses ist mit dem Design Validation Center R1.1 ab sofort verfügbar.
Das Besondere an dem Oszilloskop ist die große Auswahl an vielseitigen NFC- und ISO-Triggern, mit deren Hilfe sich Probleme auf analoger und digitaler Ebene in der Kommunikation gezielt finden lassen. „Der Trigger kann dabei auf unterschiedlichsten Schichten konfiguriert werden. Möglich ist ein Trigger zum Beispiel auf Carrier Modulation, NFC Frame Start/End, Decoder I/O Collision oder auch auf Kommandos wie WUPA, um nur einige von über 100 Triggerbedingungen zu nennen. Das gibt es bei keinem anderen Oszilloskop,“ erklärt Ralph Kamp, Business Development Manager von COMPRION. Die Hüllkurvenberechnung ist zudem konfigurierbar und lässt sich direkt anzeigen. Damit lassen sich mit dem Oszilloskop Messungen nach NFC, EMVCo oder ISO ganz einfach durchführen.
In nur 2 Schritten zum Messergebnis
Bisher brauchte man viel Expertise, Zeit und Geduld, um analoge Störsignale im NFC-Umfeld mit Hilfe eines herkömmlichen Oszilloskops zu finden. Kamp führt aus: „Das kann schon mal Stunden dauern: Oszilloskop konfigurieren, Aufzeichnung in eine Analyseumgebung importieren, Hüllkurve berechnen, Offline-Decodierung.“ Dabei kann die Suche nach der gewünschten Stelle in der Aufzeichnung im Falle einer Kollision sehr langwierig bis unmöglich sein.
Mit dem neuen integrierten NFC-Oszilloskop von COMPRION ist man mit nur zwei Schritten innerhalb weniger Sekunden am Ziel:
1) Highlevel-Trigger einstellen
2) Messung starten („Singleshot“ oder „Continuous“ Trigger)
Die Hüllkurve und NFC-Messergebnisse werden unmittelbar angezeigt. „Diese einfache Herangehensweise erlaubt das schnelle Durchspielen einer Vielzahl von Szenarien mit unterschiedlichen Kombinationen von analogen Parametern,“ ergänzt Kamp.
Einsatzmöglichkeiten des NFC-Oszilloskops
Das NFC-Oszilloskop erleichtert die Arbeit von Test- und Entwicklungsingenieuren erheblich, insbesondere dann, wenn die kontaktlosen Schnittstelle von NFC-fähigen Geräten konstruktiv optimiert oder Kommunikationsfehler auf analoger Ebene beseitigt werden sollen. Entscheidend ist es, Fehler möglichst frühzeitig und schnell zu erkennen und zu beheben, bevor deren Beseitigung in späteren Entwicklungsstufen unnötig hohe Kosten verursacht.
