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Seminare „Testen von Embedded Systems“ mit Professor Dr. Fischer 2012 in Berlin und Stuttgart

13.04.201211:00 UhrIT, New Media & Software
Bild: Seminare „Testen von Embedded Systems“ mit Professor Dr. Fischer 2012 in Berlin und Stuttgart
Professor Dr. Fischer zeigt Testtechniken für Embedded Systeme
Professor Dr. Fischer zeigt Testtechniken für Embedded Systeme

(openPR) Sie wollen die Qualität Ihrer embedded Systeme steigern? Die Vorgehensweise bei Software- und Systemtests soll nachweisbar verbessert werden? Sie wollen die Kosten für Softwaretests senken und deren Effizienz deutlich steigern?

Profitieren Sie von unseren Schulungen mit Professor Dr. Daniel Fischer und erfahren Sie wie Sie eingebettete Systeme effizient testen, Ihre Softwarequalität erhöhen sowie Test und Folgekosten senken. Gezeigt werden Testgrundlagen, praxisorientierte Techniken und bewährte Vorgehensweisen. Die Schulung wird durch zahlreiche Beispiele aus der Praxis abgerundet. Sie lernen hierdurch wie Sie das Erlernte in eigenen Projekten umsetzen.

Behandelt werden unter anderem folgende Themen:
Echtzeitsysteme, Code-Design, Architektur von Embedded Systems, Parallelität und Nebenläufigkeit, RTOS, Anforderungsmanagement, agile Softwareentwicklungsprozesse, dynamische und statische Testverfahren, Abnahme-, System- und Entwicklertests, Testplan, Entwicklertests, White- und Black-Box-Tests, Anforderungen und Tracebility, Code-Inspektionen, Qualitätsstandards und Normen, grundlegende Techniken wie Äquivalenzklassen, Grenzwertanalyse, Testen besonderer Werte, paarweises Testen, CRUD Testing, Back-to-Back Testing, Stresstesting, zufallsgesteuertes Testen und Regressionstests, kontrollflußorientiertes Testen, MISRA-Regeln, SiL, HiL, Systemtests, Analyse der Qualität von Tests, Software Defect Tracking, ...

Anmeldungen für die Seminare am 24. und 25.09.2012 in Berlin und am 19. und 20.11.2012 in Stuttgart sind ab sofort über http://www.verifysoft.com/de_seminar_test_embedded_2012.pdf möglich.
Das Seminar wird auch als Inhouse-Schulung angeboten.

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