(openPR) Die ICMCTF 2010 wird nicht nur vom SIO gesponsort, sondern wir werden auch wieder als Aussteller präsent sein, Vorträge halten und ein Poster präsentieren.
Diesmal werden wir Ihnen auf Stand Nummer 45 die neuen Möglichkeiten im Bereich der mechanischen Oberflächencharakterisierung und Oberflächenoptimierung speziell für dünne Schichten präsentieren.
Der Vortrag E2-1-3 zum Thema "Some Unpleasant Truth About Dynamic/Oscillatory Indentation Measurement Procedures" wird von Dr. Schwarzer am Dienstag, dem 27. April 2010, um 8.40 Uhr gehalten. Falls Sie die CSM-Methode von Agilent oder die QCMS-Methode von ASMEC für Indentationsmessungen verwenden, wird dieser Vortrag sehr interessant für Sie sein.
Über das Thema "Sophisticated New Analyzing and Simulation Tools for Scratch, Impact, and Wear Tests" wird Herr Fuchs im Vortrag E1-1-10 am Donnerstag, dem 29. April 2010, um 16.30 Uhr sprechen. Er wird zeigen, wie differenzierte Auswertungen von Scratch-, Einschlag- und Abriebstests mit Hilfe unserer Software ISA einfach möglich sind.
Und auf dem Poster AP-4 wird Herr Bierwisch neue Erkenntnisse zum Thema "Why Measurement at Higher Temperature is of Great Importance and How the Results Should be Used" am Donnerstag, dem 29. April 2010, ab 17 Uhr präsentieren.
Wie Sie sehen, bieten wir Ihnen auch dieses Jahr auf der ICMCTF in San Diego (Kalifornien, USA) wieder ein sehr umfangreiches Paket interessanter, neuer Informationen. Wir freuen uns auf Ihren Besuch!










