Verbessern Sie Ihre Qualitätssichtkontrolle

(openPR) Die neue App für das Vergleichen von Bildern ermöglicht es Ihnen, Referenzbilder von Leiterplatten einfach mit Echtzeit- oder auf Platten erfassten Probenbildern zu vergleichen.

TAGARNO hat eine neue App für die digitalen TAGARNO-Mikroskope entwickelt, die es Ihnen möglich macht, ein Bild auf einem perfekten Muster direkt neben einem Echtzeit-Schirmbild einer Leiterplatte oder einem erfassten Probenbild angezeigt zu bekommen und beide zu vergleichen.

Nutzen Sie die App, um eine erstklassige Qualitätskontrolle an Leiterplatten nach einem Komponentenbestückung oder Reflow auszuführen. Indem Leiterplattenproben auf unterschiedliche Weisen mit einem Referenzbild eines perfekten Musters verglichen werden, kann der Bediener mit Hilfe dieser Anwendung eine hohe Produktionsqualität gewährleisten und Fehler und falsch eingesetzte Komponenten effizient zu erkennen.

Eine Maus und eine Tastatur, die direkt mit dem Mikroskop verbunden sind, reichen aus, um eine Reihe auf dem Bildschirm angezeigten Eigenschaften zu steuern.

Fehler rechtzeitig erkennen

Es ist äußerst wichtig, Produkt- oder Produktionsabweichungen und -fehler rechtzeitig zu erkennen. Indem das Referenz- und das Probenbild nebeneinander angezeigt werden, können jegliche Fehler in der Probe leicht erkannt werden, um rasch die erforderlichen Änderungen vorzunehmen.

Dank der Schwenk- und Zoomfunktion für Referenz- und Probenbild kann die Probe im Detail betrachtet oder eine vollständige Übersicht der Ergebnisse eingeholt werden.

Das Wechseln zwischen Referenzbild- und Probenbildansicht auf dem Bildschirm in 1-Sekunden-Intervallen ermöglicht einen raschen Vergleich der beiden Platten, um Unstimmigkeiten und Abweichungen auf der Probe rasch feststellen zu können.