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Systech Europe und XJTAG bieten erweitertes Testen

08.11.201715:51 UhrIT, New Media & Software
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Systech Europe und XJTAG bieten erweitertes Testen
Systech Europe und XJTAG bieten erweitertes Testen

(openPR) CAMBRIDGE, GB und DÜSSELDORF, DEUTSCHLAND, 8. November 2017 - XJTAG, ein weltweit führender Anbieter von Boundary-Scan-Technologie und Systech Europe, ein führender europäischer Anbieter von elektronischen Testlösungen, gaben heute die Verfügbarkeit einer integrierten Lösung, XJTAG-Boundary-Scan und Takaya-Flying-Probe, bekannt.


Aufgrund verstärkter Kundennachfragen hat XJTAG mit dem europäischen Vertriebspartner von Takaya, Systech Europe, zusammengearbeitet, um eine leistungsfähige Integration zu schaffen, indem JTAG-Boundary-Scan mit Testsystemen für Flying-Probe kombiniert wird. Da viele Komponenten derzeit als BGA oder Gehäuse mit besonders dicht liegenden Anschlüssen hergestellt werden, ist die Notwendigkeit einer Boundary-Scan-Funktion zur Steuerung dieser Geräte entscheidend für die Erzielung der besten Abdeckung. Darüber hinaus ermöglicht es die Verwendung von Flying-Probe auch Teile der Schaltung ohne JTAG-Zugang zu erreichen und so eine maximale Abdeckung durch Boundary-Scan-Tests zu erzielen. Die Integration verhilft Testingenieuren zu einer Verkürzung der Testzykluszeiten bei gleichzeitiger Erhöhung der Testabdeckung.
Jörg Lewandowski, Geschäftsführer von Systech Europe, kommentiert die Zusammenarbeit mit XJTAG: „Testingenieure sehen sich mit Komponenten, die wenig oder gar keinen Zugang zu ihren Pins bieten, einem zunehmenden Druck ausgesetzt und auch der Platz für Testpunkte ist stark eingeschränkt. Bei Systech Europe sind wir ständig auf der Suche nach den besten Testlösungen für unsere Kunden und fanden heraus, dass XJTAG-Boundary-Scan einfach bedienbar ist, hervorragende Funktionalität zu einem sehr wettbewerbsfähigen Preis bietet und mit einem flexiblen Lizenzmodell ausgestattet ist.”
Testzykluszeiten werden reduziert, indem die Anzahl der durch Flying-Probe ausgeführten Sondenbewegungen optimiert wird. Die Testabdeckung wird erhöht, indem der durch Flying-Probe ermöglichte, physikalische Zugang mit XJTAGs, in vielen heutigen Prozessoren und FPGAs bereits integrierten, Boundary-Scan-Technologie kombiniert wird.
Simon Payne, CEO von XJTAG, sagt: „Wir freuen uns sehr über die enge Zusammenarbeit mit Systech Europe. Man hat großes Verständnis für die Herausforderungen, vor denen die Elektronikindustrie in vielen Sektoren in ganz Europa, darunter Verteidigung, Luft- und Raumfahrt, Automobilindustrie, Medizin, Industrie und Halbleiter, steht.
Mit zunehmender Komplexität elektronischer Schaltkreise hilft die Zusammenarbeit führender Anbieter nicht nur bei der Bewältigung der heutigen Herausforderungen von Ingenieuren, sondern schafft auch zukunftsfähige Testlösungen. Um mehr zu erfahren, besuchen Sie www.xjtag.com/www.systech-europe.de

Für weitere Informationen kontaktieren Sie bitte:
Victoria Graff, VP Marketing, XJTAG (E-Mail).

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