Global Platform testet Chipkarten-Standard mit LEIRIOS-Lösung

(openPR) München, 7. Januar 2008 - Global Platform, die internationale Vereinigung für die Definition von Standards für Chipkarten, setzt die Lösungen von LEIRIOS beim Test neuer Spezifikationen ein. Das Smart Testing von LEIRIOS ermöglicht eine Generierung von Test-Cases und Test-Scrips direkt aus Modellen. Damit kann ohne zusätzlichen Aufwand eine deutlich höhere Testabdeckung erreicht werden.

Global Platform ist eine internationale Vereinigung von Unternehmen, die Standards für Chipkarten und die für deren Einsatz notwendigen Infrastrukturen entwickelt und festlegt. Mitglieder sind unter anderem Visa, Mastercard, IBM, Sun, Giesecke & Devrient, Thales, NTT und France Telecom.

Global Platform hat nun entschieden, für die Erstellung einer Compliance-Test-Suite zur Prüfung der neuen Spezifikation GP 2.2 die Lösungen von LEIRIOS zu verwenden.

Mit den Werkzeugen von LEIRIOS können Software-Tester direkt aus einer UML-basierten System-Modellierung Test-Cases und Test-Scripts für ihre Testwerkzeuge generieren. Auf diese Weise lassen sich ohne großen Aufwand Testfälle in großer Zahl systematisch erzeugen, was mit herkömmlichen, manuellen Methoden nicht möglich wäre. Auch komplexe Applikationen können mit LEIRIOS Smart Testing sehr effizient und dennoch umfassend getestet werden.

"LEIRIOS ist schon seit langem in die Herstellung von Chipkarten stark involviert", erklärt Josef Narings, General Manager für LEIRIOS Deutschland in München. "Software für Chipkarten ist besonders sicherheitskritisch und muss daher besonders gründlich getestet werden. Dafür ist das Smart Testing von LEIRIOS die ideale Lösung."

Diese Presseinformation ist unter www.pr-com.de abrufbar.