(openPR) Sofia, Bulgarien – 24 April 2007 - BudgetSensors, der bulgarische Hersteller von Silizium- und Siliziumnitrid AFM Spitzen, sowie von AFM Zubehör für Raster Kraft Mikroskopie (engl. Atomic Force Microscopy), hat heute die Markteinführung seiner neuen AFM Spitze für magnetische AFM Messungen, die Multi75M, angekündigt.
Die Multi75M ist eine Siliziumspitze für Magnetic Force Microscopy (MFM), die auf der der bereits gut etablierten AFM Spitze Multi75 basiert. Im Gegensatz zur Multi75, hat jedoch die Multi75M eine magnetische Beschichtung auf der Seite der AFM Spitze und eine Aluminiumbeschichtung auf der Detektorseite des Cantilevers.
Diese Eigenschaften machen die Multi75M zu einer universell einsetzbaren MFM Spitze für die unterschiedlichsten Anwendungen der MFM.
“Magnetic Force Microscopy ist in den letzten Jahren immer wichtiger geworden und daher ist dieser Produkttyp von strategischer Bedeutung für das AFM Spitzen Portfolio von BudgetSensors”, sagte Kamen Nikolov, Geschäftsführer von BudgetSensors.
„Wir haben ziemlich lange mit dieser Produkteinführung gewartet, weil es für uns notwendig war, zu gewährleisten dass die Qualität unserer MFM Spitze den hohen Qualitätsstandards unserer restlichen Produkte entspricht. Zu diesem Zweck haben wir intensive Tests in unterschiedlichen MFM Anwendungen gemacht, die nun alle zu unserer vollsten Zufriedenheit abgeschlossen sind!“, sagte Dr. Yordan Stefanov, Leiter Anwendungen bei BudgetSensors.
Weitere Informationen zur neuen MFM Spitze von BudgetSensors finden Sie hier: http://www.budgetsensors.com/magnetic-afm-probes.html
Weitere Produkteinführungen von BudgetSensors stehen bald bevor.
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Presseinformation
BudgetSensors führt eine AFM Spitze mit magnetischer Beschichtung ein
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Verantwortlich für diese Pressemeldung:Der Geschäftsbereich AFM Spitzen produziert und vertreibt unter der Handelsmarke BudgetSensors™ Spitzen und Zubehör für Rasterkraftmikroskope, welche von den fortschrittlichsten Forschungseinrichtungen weltweit eingesetzt werden. Das Rasterkraftmikroskop (engl.: Atomic Force Mikroscope (AFM)) ist eines der wichtigsten Instrumente für den Bereich Nanotechnologie.
Über das Unternehmen
Die Geschäftsbereiche Print & Design und Web & Programming bieten Dienstleistungen rund um Corporate Design, Präsentation und Werbematerialien an.
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